Tektronix為DSA8300采樣示波器推出新的光模塊

  ICCSZ訊(編譯：Vicki)Tektronix公司為其DSA8300采樣示波器推出了兩個(gè)新的光學(xué)模塊，提供了它所聲稱(chēng)的行業(yè)最高靈敏度和最低噪音。這些光學(xué)模塊使制造商能夠提高生產(chǎn)能力，并提高400G設(shè)計(jì)的產(chǎn)量。

  Tektronix還宣布了一個(gè)針對(duì)4通道并行處理的軟件包，用于高吞吐量的制造測(cè)試，為新的400G PAM4 TDECQ測(cè)量提供升級(jí)的支持。

  光器件產(chǎn)業(yè)正加速向400G和PAM4，以滿(mǎn)足數(shù)據(jù)中心不斷增長(zhǎng)的帶寬需求，同時(shí)降低信噪比，降低信號(hào)幅度，增加10倍以上的測(cè)試數(shù)量，挑戰(zhàn)生產(chǎn)工程以降低設(shè)備測(cè)試成本。Tektronix公司證實(shí)其基于DSA8300的采樣可以降低測(cè)試成本，該行業(yè)的帶寬最高，靈敏度最高，且測(cè)試時(shí)間縮短。

  Tektronix表示，新的56 GBaud PAM4 80C20和80C21光模塊和NRZ通過(guò)9μW光學(xué)噪聲可以安裝在DSA8300采樣示波器，通過(guò)雙通道80C21，光器件制造測(cè)試工程師可以提高產(chǎn)量和容量。

  Tektronix提供了一套全面的增強(qiáng)PAM4分析工具，用于分解信號(hào)內(nèi)容，使其具有噪音和抖動(dòng)，使工程師能夠在設(shè)備故障時(shí)發(fā)現(xiàn)潛在的問(wèn)題。

  Tektronix公司的總經(jīng)理Sarah Boen表示:“隨著400G設(shè)計(jì)進(jìn)入生產(chǎn)階段，我們的客戶(hù)正在尋找提高制造產(chǎn)量和測(cè)試成本的方法，這一切都始于對(duì)測(cè)試結(jié)果的信心，以及快速準(zhǔn)確地將好的部件與壞的部件分開(kāi)的能力。隨著業(yè)界對(duì)最低的噪音和最高的靈敏度的需求，我們的解決方案提供了一些見(jiàn)解，提高了光學(xué)元件和互連的產(chǎn)量和吞吐量?！?

  從4月份開(kāi)始，將有80C20和80C21光學(xué)模塊和400G測(cè)試軟件升級(jí)。