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Tektronix為DSA8300采樣示波器推出新的光模塊

摘要:Tektronix公司為其DSA8300采樣示波器推出了兩個(gè)新的光學(xué)模塊,提供了它所聲稱的行業(yè)最高靈敏度和最低噪音。這些光學(xué)模塊使制造商能夠提高生產(chǎn)能力,并提高400G設(shè)計(jì)的產(chǎn)量。

  ICCSZ訊(編譯:Vicki)Tektronix公司為其DSA8300采樣示波器推出了兩個(gè)新的光學(xué)模塊,提供了它所聲稱的行業(yè)最高靈敏度和最低噪音。這些光學(xué)模塊使制造商能夠提高生產(chǎn)能力,并提高400G設(shè)計(jì)的產(chǎn)量。

  Tektronix還宣布了一個(gè)針對(duì)4通道并行處理的軟件包,用于高吞吐量的制造測(cè)試,為新的400G PAM4 TDECQ測(cè)量提供升級(jí)的支持。

  光器件產(chǎn)業(yè)正加速向400G和PAM4,以滿足數(shù)據(jù)中心不斷增長(zhǎng)的帶寬需求,同時(shí)降低信噪比,降低信號(hào)幅度,增加10倍以上的測(cè)試數(shù)量,挑戰(zhàn)生產(chǎn)工程以降低設(shè)備測(cè)試成本。Tektronix公司證實(shí)其基于DSA8300的采樣可以降低測(cè)試成本,該行業(yè)的帶寬最高,靈敏度最高,且測(cè)試時(shí)間縮短。

  Tektronix表示,新的56 GBaud PAM4 80C20和80C21光模塊和NRZ通過(guò)9μW光學(xué)噪聲可以安裝在DSA8300采樣示波器,通過(guò)雙通道80C21,光器件制造測(cè)試工程師可以提高產(chǎn)量和容量。

  Tektronix提供了一套全面的增強(qiáng)PAM4分析工具,用于分解信號(hào)內(nèi)容,使其具有噪音和抖動(dòng),使工程師能夠在設(shè)備故障時(shí)發(fā)現(xiàn)潛在的問(wèn)題。

  Tektronix公司的總經(jīng)理Sarah Boen表示:“隨著400G設(shè)計(jì)進(jìn)入生產(chǎn)階段,我們的客戶正在尋找提高制造產(chǎn)量和測(cè)試成本的方法,這一切都始于對(duì)測(cè)試結(jié)果的信心,以及快速準(zhǔn)確地將好的部件與壞的部件分開(kāi)的能力。隨著業(yè)界對(duì)最低的噪音和最高的靈敏度的需求,我們的解決方案提供了一些見(jiàn)解,提高了光學(xué)元件和互連的產(chǎn)量和吞吐量?!?

  從4月份開(kāi)始,將有80C20和80C21光學(xué)模塊和400G測(cè)試軟件升級(jí)。

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