EXFO | 適用于制造和研發(fā)應(yīng)用的光測試解決方案（下）

  ICC訊  在產(chǎn)線和實(shí)驗(yàn)室環(huán)境中，有哪些出類拔萃的光測試解決方案組合備受青睞？

  本文將為您介紹來自 EXFO 的 OPAL-EC 端面耦合的晶圓級(jí)測試臺(tái)。它能夠執(zhí)行精準(zhǔn)、可重復(fù)、靈活、快速的光子集成電路(PIC)測試，提供可追溯的測試結(jié)果。適用于從研發(fā)到多點(diǎn)量產(chǎn)的各種應(yīng)用環(huán)境，能夠在集成的光子平臺(tái)上進(jìn)行光電子測試，也能廣泛應(yīng)用于電信和數(shù)據(jù)通信光模塊、量子、激光雷達(dá)(LIDAR)、傳感器、人工智能(AI)。

  適用于集成光子器件的自動(dòng)化測試臺(tái)  

  OPAL-EC 端面耦合晶圓級(jí)測試臺(tái)采用過精準(zhǔn)、可重復(fù)、靈活且快速的硬件，提供先進(jìn)的集成光子電路鑒定功能。PILOT軟件套件強(qiáng)化了OPAL-EC的硬件功能，將其變成一個(gè)自動(dòng)化測試臺(tái)和高質(zhì)量的測量平臺(tái)，將測試結(jié)果變成可付諸實(shí)施的數(shù)據(jù)。整套應(yīng)用成為一個(gè)平臺(tái)，支持完整的測試和測量流程，幫助用戶變得更加以數(shù)據(jù)為導(dǎo)向。這一個(gè)完整的平臺(tái)與EXFO的先進(jìn)光學(xué)測量功能相結(jié)合，并對任何第三方儀表開放，成為理想的PIC測試解決方案。

  業(yè)內(nèi)首創(chuàng)——該測試臺(tái)采用先進(jìn)的組件，因此能夠通過溝槽耦合在晶圓上實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)且可重復(fù)性高的多端口光學(xué)端面耦合對準(zhǔn)。這種水平的精準(zhǔn)度打破了通常需要再安裝垂直光柵耦合器，才能進(jìn)行晶圓級(jí)裸片篩選的做法。這反過來又可以在生產(chǎn)鏈的更早階段測試整個(gè)電路，包括用于封裝的生產(chǎn)端口，從而省去了成本高的步驟，并提高了全球產(chǎn)量和電路性能。還支持在現(xiàn)場快速地重新配置好測試臺(tái)，進(jìn)行垂直耦合校準(zhǔn)。

  OPAL-EC是專用于PIC測試的OPAL系列測試臺(tái)的一部分。該系列還包括僅支持垂直耦合的測試臺(tái)OPAL-SC，以及單裸片測試臺(tái)OPAL-SD，這些測試臺(tái)均采用PILOT軟件。

  PILOT自動(dòng)化軟件

  PILOT是一個(gè)軟件平臺(tái)，可編排PIC測試和測量的完整流程：準(zhǔn)備；以高吞吐量執(zhí)行全自動(dòng)的導(dǎo)航、校準(zhǔn)和測量以及對結(jié)果進(jìn)行分析和數(shù)據(jù)管理。

  1.功能強(qiáng)大、易于擴(kuò)展

  從軟件架構(gòu)到實(shí)施，PILOT在時(shí)間和數(shù)量上都具有可擴(kuò)展性，并有助于實(shí)施最佳實(shí)踐。它通過自動(dòng)化簡化了各種任務(wù)(準(zhǔn)備、數(shù)據(jù)分析、報(bào)告)和測量(導(dǎo)航、校準(zhǔn)、儀表控制)，從而提高了效率。該軟件由多個(gè)應(yīng)用組成，每個(gè)應(yīng)用都針對特定任務(wù)進(jìn)行設(shè)計(jì)，概念和職責(zé)分離。

  2.數(shù)據(jù)庫優(yōu)勢

  該軟件以各種應(yīng)用為基礎(chǔ)，與數(shù)據(jù)庫(云端或內(nèi)部)相連，該數(shù)據(jù)庫保存了所有元素(結(jié)果和實(shí)驗(yàn)條件、測試臺(tái)配置、測試定義、組件定義、驅(qū)動(dòng)程序、python腳本)的數(shù)據(jù)。PILOT可實(shí)現(xiàn)多用戶、多地點(diǎn)協(xié)作，共享共同的數(shù)據(jù)工作空間。該數(shù)據(jù)庫為關(guān)系型的，具備可追溯性，并可以進(jìn)行擴(kuò)展以支持大容量，使系統(tǒng)具備本地兼容性，并通過內(nèi)置工具或互操作性支持高級(jí)數(shù)據(jù)分析、人工智能和商業(yè)智能工具。

  OPAL測試臺(tái)包括OPAL-EC主系統(tǒng)和PILOT軟件。OPAL平臺(tái)提供了一個(gè)靈活的測試環(huán)境來構(gòu)建自定義配置，可以根據(jù)您的需求隨時(shí)進(jìn)行修改，并降低了測試設(shè)計(jì)(DfT)要求。

  注：可以前往EXFO官方微信公眾號(hào)，點(diǎn)擊相關(guān)推文觀看演示視頻，下載規(guī)格書，了解如何使用自動(dòng)化探針臺(tái)測試光子集成電路（PIC）