ICC訊 本文將介紹昊衡科技推出的OLI 光纖微裂紋檢測(cè)儀。首先理解下OLI的原理,OLI其原理基于白光干涉,可以簡(jiǎn)單理解為,設(shè)備出光光源為白光,該光源分為兩路,一路在設(shè)備內(nèi)部作為參考光,一路進(jìn)入待測(cè)器件作為信號(hào)光,參考光和信號(hào)光在相同光程的地方會(huì)發(fā)生干涉,且誤差在百微米內(nèi),這也意味著OLI有著超高的定位精度。OLI讀取最終干涉曲線(xiàn)的峰值大小,精確測(cè)量整個(gè)掃描范圍內(nèi)的回波損耗,進(jìn)而判斷此測(cè)量范圍內(nèi)鏈路的性能。
小編想跟大家聊的重點(diǎn)是OLI測(cè)試范圍升級(jí)至-100dB,意味著OLI能探測(cè)到光鏈路中任何高于-100dB的光學(xué)信號(hào),且能對(duì)該位置進(jìn)行精確定位。小編給大家舉幾個(gè)例子,直觀感受-100dB的概念。工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,APC接頭回?fù)p值≥-60dB,PC、UPC接頭回?fù)p值≥-50dB;實(shí)際測(cè)試中APC接頭法蘭對(duì)接回?fù)p值≥-70dB;光纖和芯片耦合完好回?fù)p值≥-70dB。
圖1. 實(shí)測(cè)示意圖
以下是OLI在-100dB測(cè)試范圍下檢測(cè)多通道FA端面,OLI外接8通道光開(kāi)關(guān),開(kāi)啟多通道測(cè)試功能。
圖2. 多通道FA
圖3.8通道測(cè)試結(jié)果
OLI應(yīng)用場(chǎng)景
光纖微裂紋檢測(cè)
光器件、光模塊測(cè)量
硅光芯片測(cè)量
PLC波導(dǎo)瑕疵損耗檢測(cè)
FA光纖陣列鏈路性能檢測(cè)
目前,昊衡科技已完成新一代OLI儀器開(kāi)發(fā),參數(shù)性能進(jìn)一步提升,儀器測(cè)量長(zhǎng)度已升級(jí)為1m,回?fù)p測(cè)量范圍可低至-100dB,歡迎廣大行業(yè)客戶(hù)來(lái)電咨詢(xún)測(cè)試。
Megasense
一家集研發(fā)、生產(chǎn)、銷(xiāo)售于一體的高科技公司,專(zhuān)業(yè)從事工業(yè)級(jí)自校準(zhǔn)光學(xué)測(cè)量與傳感技術(shù)開(kāi)發(fā),也是一家實(shí)現(xiàn)OFDR技術(shù)商用化的公司。目前,昊衡科技已推出多款高精度高分辨率產(chǎn)品,主要應(yīng)用于光學(xué)鏈路診斷、光學(xué)多參數(shù)測(cè)量、高精度分布式光纖溫度和應(yīng)變傳感測(cè)試。已與全球多個(gè)國(guó)家和地區(qū)企業(yè)建立良好的合作關(guān)系,并取得諸多成果。電話(huà):027-87002165官網(wǎng):http://www.mega-sense.com/公眾號(hào):“昊衡科技”或“大話(huà)光纖傳感”