昊衡科技|OLI動(dòng)態(tài)范圍升級(jí)至-90dB

  ICC訊 昊衡科技以白光干涉為原理的光纖微裂紋檢測(cè)儀,測(cè)試長(zhǎng)度從最初的6cm已升級(jí)至1m，橫向測(cè)試長(zhǎng)度升級(jí)的同時(shí)也在不斷研究拓展縱向探測(cè)深度，現(xiàn)昊衡科技光纖微裂紋檢測(cè)儀(OLI)測(cè)試深度由-80dB升級(jí)至-90dB。

圖1.低成本光學(xué)鏈路診斷儀(OLI)

  以下是光纖微裂紋檢測(cè)儀(OLI)測(cè)試波分復(fù)用器，OLI能明顯測(cè)試出器件內(nèi)部-90dB附近反射峰值。

  圖2.-90dB探測(cè)深度

  光纖微裂紋檢測(cè)儀測(cè)量深度從-80dB升級(jí)到-90dB。采用全新的光路設(shè)計(jì)以及更換鏈路模塊，完成這次-90dB測(cè)試深度升級(jí)，設(shè)備測(cè)試性能和穩(wěn)定性也有所提升，現(xiàn)昊衡科技光纖微裂紋檢測(cè)儀(OLI)多種測(cè)試長(zhǎng)度搭配-90dB的探測(cè)深度能更大程度滿(mǎn)足客戶(hù)測(cè)試所需。昊衡推出的光纖微裂紋檢測(cè)儀也稱(chēng)低成本光學(xué)鏈路診斷系統(tǒng)(OLI)，該系統(tǒng)通過(guò)讀取最終干涉曲線(xiàn)的峰值大小，精確測(cè)量整個(gè)掃描范圍內(nèi)的回波損耗， 進(jìn)而判斷此測(cè)量范圍內(nèi)鏈路的性能，其事件點(diǎn)定位精度高達(dá)幾十微米，最低可探測(cè)到-90dB光學(xué)弱信號(hào)， 廣泛用于光纖或光器件損傷檢測(cè)以及產(chǎn)品批量出貨合格判定。