ICC訊 據(jù)報道,三星已經(jīng)與美國的 Silicon Frontline Technology 公司合作,以提高其半導體芯片在生產(chǎn)過程中的良率,以便于在 3 納米工藝上趕超臺積電。
報道中稱,三星電子先進制程良率非常低,自 5 納米制程開始一直存在良率問題,在 4 納米和 3 納米工藝上情況變得更加糟糕。據(jù)傳三星 3 納米解決方案制程自量產(chǎn)以來,良率不超過 20%,量產(chǎn)進度陷入瓶頸。
三星目前在 4 納米和 5 納米工藝節(jié)點上出現(xiàn)了與產(chǎn)量有關的問題,該公司不希望這個問題再次出現(xiàn)在 3 納米工藝上。因此希望通過和 Silicon Frontline Technology 公司合作,幫助三星晶圓廠進行前端(front-end)工藝和芯片性能改進。
IT之家了解到,這家美國公司提供芯片鑒定評估和 ESD(靜電放電)預防技術。ESD 是造成半導體芯片缺陷的主要原因之一,是由制造過程中設備和金屬之間的摩擦造成的。據(jù)報道,三星在芯片設計和生產(chǎn)過程中已經(jīng)與 Silicon Frontline 公司合作了很長時間,并取得了令人滿意的結果。該公司現(xiàn)在將在芯片驗證過程中使用該公司的技術。