聯(lián)訊儀器推出國內(nèi)首臺25G/50G突發(fā)誤碼儀

  聯(lián)訊rBT2250突發(fā)誤碼儀

  隨著10G PON網(wǎng)絡(luò)部署和實施，下一代50G PON網(wǎng)絡(luò)的標(biāo)準(zhǔn)也已經(jīng)完善：2018年，ITU/FSAN啟動了基于單波長50G PON標(biāo)準(zhǔn)的制定工作，命名為G.HSP(G.Higher Speed PON)。2019年，50G PON的總體需求G.9804.1發(fā)布，明確了單波長TDM PON架構(gòu)，以及上下行速率組合，此外，50G PON需要滿足與10G PON以及存量ODN的共存平滑演進。2021年，ITU-T 50G PON系列標(biāo)準(zhǔn)正式發(fā)布，系列標(biāo)準(zhǔn)包括：總體需求標(biāo)準(zhǔn)修訂G.9804.1 AMD1、通用協(xié)議層標(biāo)準(zhǔn)G.9804.2，以及物理層標(biāo)G.9804.3。為了滿足下一代50G PON測試需求，聯(lián)訊儀器推出了rBT2250，專門針對下一代25G/50G PON光線路終端(OLT)測試的新型突發(fā)誤碼分析儀。

圖1 聯(lián)訊rBT2250 25G/50G 突發(fā)誤碼儀

  50G PON 應(yīng)用場景

  50G PON是接入網(wǎng)能力的全面提升，實現(xiàn)了大帶寬、低時延保障和通道化能力的全面提升，面向多應(yīng)用場景。

圖2 50G PON 全場景

  50G PON采用單纖雙向傳輸，下行TDM時分復(fù)用，上行TDMA時分多址接入，實現(xiàn)OLT和ONU之間的點到多點通信，在PON系統(tǒng)中，光網(wǎng)絡(luò)單元ONU通過光纖和耦合器共享一個光線路終端OLT，上行數(shù)據(jù)的傳輸采用時分復(fù)用的方式共享上行信道，對于發(fā)射上行數(shù)據(jù)的光發(fā)射機來說，它發(fā)射的是突發(fā)包信號。目前因為受到核心芯片及器件的限制，50G PON目前階段還是以非對稱：下行50G連續(xù)/上行25G突發(fā)為主。

圖3 50G PON 架構(gòu)

  50G PON 測試挑戰(zhàn)

  因傳輸路徑不同，各數(shù)據(jù)包有不同衰減，數(shù)據(jù)包中存在長連“1”、“0”，這些因素的影響使得OLT突發(fā)接收模塊接收的信號是特殊的突發(fā)光信號。

圖4 不同幅度ONU信號

  ONU 上行突發(fā)信號：需要有和數(shù)據(jù)同步的使能控制信號;需要能發(fā)送前導(dǎo)碼+PRBS數(shù)據(jù)的具有時序的數(shù)據(jù)包(幀結(jié)構(gòu))

  →需要具有突發(fā)數(shù)據(jù)和同步使能控制信號的誤碼儀

圖5 突發(fā)誤碼儀雙突發(fā)測試

  對于上行的突發(fā)信號，OLT接收模塊不僅要從不同功率衰減ONU1和ONU2突發(fā)信號中，迅速恢復(fù)出幅值相等的信號，而且要消除不同ONU的相位突變，即完成時鐘和相位的對齊，因此OLT輸出的信號應(yīng)該為幅值相等且時鐘和相位對齊的電信號，雙突發(fā)測試可以模擬兩路不同衰減的ONU傳輸測試。

  →需要突發(fā)誤碼儀在突發(fā)模式才能驗證OLT接收機的性能，連續(xù)模式誤碼分析儀診斷不出來有問題的OLT

  rBT2250 突發(fā)誤碼儀

  針對上述測試需求，聯(lián)訊儀器rBT2250提供2個獨立的突發(fā)碼型發(fā)生器和誤碼探測器通道，支持連續(xù)模式或突發(fā)模式誤碼分析，具有兩路突發(fā)時分碼型序列產(chǎn)生和誤碼分析能力。碼型時序靈活可調(diào)，并針對器件測試需求，給相應(yīng)測試通道提供同步的激光器使能、復(fù)位信號等低速控制通道。而且rBT2250內(nèi)置時鐘恢復(fù)，可以自動測距，對長纖測試毫無問題。從而大大簡化測試設(shè)置、連接、占地空間以及測試成本。

圖6 rBT2250 軟件主測試界面

  產(chǎn)品特點

  · 支持突發(fā)或連續(xù)模式信號輸出及誤碼測試;

  · 突發(fā)模式支持速率：9.953Gbps/10.3125Gbps/12.4416Gbps/24.8832Gbps;

  · 多通道配置：

    集成2個獨立的高速突發(fā)數(shù)據(jù)通道，支持2路突發(fā)時序可配置的碼型發(fā)生器通道和1路突發(fā)誤碼測試通道;

  · 支持2路同步的ONU激光器使能控制通道，控制電平需要LVTTL 3.3V，不需外接電平轉(zhuǎn)換;

  · 支持1路雙復(fù)位控制通道：復(fù)位位置可調(diào)，復(fù)位寬度可調(diào);

  · 支持1路RSSI Trigger：且 RSSI Trigger 位置及脈沖寬度可調(diào);

  · 可增加額外連續(xù)碼型發(fā)生器通道：可以選擇雙25G NRZ通道、50G PAM4通道或者50G NRZ通道;

  · 支持LOS測量：每個測試通道單獨具備LOS監(jiān)測通道，可以監(jiān)測SD(Signal Detect)信號，判斷LOS;

  · 支持CDR(時鐘恢復(fù))：同OLT設(shè)備類似，每次接收都會進行時鐘恢復(fù);內(nèi)置時鐘恢復(fù)使得rBT2250可以工作在真實的長纖工作環(huán)境中，這在業(yè)內(nèi)普遍使用的其他方案中基本無法實現(xiàn)，因為那些系統(tǒng)不支持時鐘恢復(fù)，長纖對時延的及抖動的影響使其不能工作。

圖7 聯(lián)訊25G OLT整體測試方案

  OLT 整體測試方案中，rBT2250突發(fā)誤碼儀同時支持2路突發(fā)信號，模擬2個ONU的雙包突發(fā)測試，50G 光采樣示波器支持OLT TX端連續(xù)模式光眼圖測試。

  關(guān)于聯(lián)訊

  聯(lián)訊儀器位于蘇州高新區(qū)湘江路1508號，是國內(nèi)高端測試儀器和設(shè)備提供商。聯(lián)訊儀器主要專注于高速通信測試，光芯片測試和半導(dǎo)體測試三大領(lǐng)域，可以提供包括高速誤碼儀、網(wǎng)絡(luò)測試儀、寬帶采樣示波器、高精度波長計、光譜儀，通用數(shù)字源表等高端測試儀器，以及高速光電混合ATE， 激光器芯片老化機，激光器芯片測試機，硅光晶圓測試機，功率芯片測試機，晶圓老化機等高端測試設(shè)備。

  聯(lián)訊儀器堅持以客戶為中心，以員工為根本，以創(chuàng)新為驅(qū)動，盡精微致廣大的企業(yè)文化，心懷不斷填補國內(nèi)高端測試儀器設(shè)備空白的使命，為達成國內(nèi)領(lǐng)先、國際知名的高端測試儀器設(shè)備提供商的愿景而不懈奮斗。

  更多信息請訪問 www.semight.com

  >>> 欲了解更多產(chǎn)品詳情，請聯(lián)系我們：

  銷售中心負責(zé)人：楊 建 186-6029-8596

  光通訊測試儀表：鄧 寒 186-2613-2729

  光芯片老化測試：張 紀(jì) 189-7147-3511

  高精度數(shù)字源表：張盼盼 185-2212-4627

  半導(dǎo)體測試設(shè)備：張學(xué)增 139-1404-6017

  E-mail：sales@semight.com

  地 址：蘇州市虎丘區(qū)湘江路1508號