光子集成回路Wafer Level Test網(wǎng)絡(luò)研討會(huì)（演講視頻分享）

  ICC訊  近日，日立高新技術(shù)公司主頁(yè)上登載了由ficonTEC公司主辦、日立高新技術(shù)集團(tuán)旗下的VLC Photonics S.L.公司參與的網(wǎng)絡(luò)研討會(huì)。

  這場(chǎng)網(wǎng)絡(luò)研討會(huì)時(shí)常30分鐘左右，歡迎點(diǎn)擊觀看。

  這場(chǎng)主題為 "PIC Testing with Wafer-level Test Systems" 的網(wǎng)絡(luò)研討會(huì)于去年舉行，其中介紹了VLC Photonics S.L.如何使用ficonTEC公司的測(cè)試設(shè)備提供PIC測(cè)試服務(wù)。

  網(wǎng)絡(luò)研討會(huì)概要內(nèi)容如下：

  由VLC Photonics S. L.公司首席執(zhí)行官I?igo Artundo介紹VLC的PIC晶圓級(jí)測(cè)試技術(shù)，以及和ficonTEC之間進(jìn)行對(duì)話形式的答疑。

  第一部分：PIC測(cè)量需求和課題

  第二部分：VLC的PIC測(cè)量解決方案(Automated Wafer-level Testing)

  第三部分：用于端面耦合PIC測(cè)試的Wafer-Level Test技術(shù)

  第四部分：答疑

  如果您有任何關(guān)于網(wǎng)絡(luò)研討會(huì)的內(nèi)容咨詢的話，請(qǐng)通過(guò)下面的 "E-mail" 或者電話聯(lián)系我們。

  Email: optosales.aj.ml@hitachi-hightech.com

  Tel: 0755-82029631

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