CIOE2021 | 普賽斯電子攜芯片、器件系列測試產(chǎn)品圓滿參展

  ICC訊 2021年9月16-18日，武漢普賽斯電子技術(shù)有限公司參加中國國際光電博覽會(CIOE 2021)深圳國際會展中心(寶安新館)展位號4A78，重點展示了多款芯片測試類、器件測試類產(chǎn)品以及普賽斯儀表公司的高精度儀表產(chǎn)品。

  CHIP自動測試系統(tǒng)

  普賽斯chip自動測試系統(tǒng)應(yīng)用于光芯片 LD-CHIP 高溫/常溫 LIV 測試、SMSR 測試及背光抽測并 對不同測試結(jié)果進行歸類分檔篩選。芯片 wafer 藍膜上料，CHIP-ID 自動識別記 憶匹配測試，通過藍膜頂針剝離機構(gòu)，吸嘴吸取，機械手分別搬運到高溫及常溫 測試區(qū)域，自動擺位，自動給電，收集發(fā)光參數(shù)，分析篩選，機械手搬運分檔歸類。

  TO三溫測試系統(tǒng)

  普賽斯 TO 三溫測試系統(tǒng)支持 TO 工業(yè)級低溫、常溫、高溫測試，溫度控制范圍為-40℃～85℃適用于 VCSEL/FP/DFB-TOCAN的自動測試，支持器件任意引腳封裝測試，支持 LIV 特性測試以及光譜測試。系統(tǒng)一次支持兩塊夾具進行測試，每塊夾具可裝載128顆TO，提高測試產(chǎn)量，系統(tǒng)具有溫控快，溫度均勻性好，穩(wěn)定可靠，測試效率高的特點。

  光模塊集成式老化系統(tǒng)

  該設(shè)備用于光模塊的老化篩選以及可靠性分析。該系統(tǒng)提供 2~5V 恒壓以及最高 120℃高溫老化條件，同時對模塊的工作電流、電壓以及工作環(huán)境溫度進行實時監(jiān)控測試，并自動進行失效判斷。實時儲存監(jiān)控數(shù)據(jù)，支持對老化失效模塊進行追述，通過 DDM 記錄模塊電壓、溫度、偏置電流、發(fā)射功率、接收功率。最多支持 2016 只模塊(SFP 封裝)的 單次老化。

  400G高速誤碼測試系統(tǒng)

  該產(chǎn)品是一款針對于多通道PAM4和NRZ應(yīng)用的高速信號誤碼性能分析儀，最高支持8x56Gb/s PAM4信號測試，亦可支持10G~28Gb/s NRZ信號測試，設(shè)備包含8路PPG，8路ED收發(fā)端信號可同時或者獨立工作，單路最高支持56Gb/s PAM4信號，支持多類型碼型測試方案。發(fā)端包含多級預(yù)加重調(diào)節(jié)模式，可針對PAM4信號進行眼型調(diào)節(jié)等功能，收 端包含0~9dB CTLE均衡調(diào)節(jié)，也可支持FFE、DFE等均衡功能，支持FEC功能，可實現(xiàn) PRBS錯誤校驗與修正，KP4/KR4 FEC協(xié)議，具備 SNR監(jiān)測功能?？蓮V泛于 100G 模塊、200G 模塊、400G 模塊、AOC、光器件及子系統(tǒng)研發(fā)生產(chǎn)等光測試場景，亦可為高速光收發(fā)模塊自動化生產(chǎn)測試提供最佳解決方案。

      普賽斯TO56自動盤測系統(tǒng)

  普賽斯TO56自動盤測系統(tǒng)，適用于VCSELFP/DFB/DML/EML/SOA-EML-TOCAN的自動測試，采用一塊測試板測試64顆4PIN/5PIN-TO-CAN或32顆7PIN/8PIN-TO-CAN,支持任意引腳封裝測試，支持高溫測試、TEC溫控、LIV特性測試以及光譜測試。該系統(tǒng)和我司老化箱配套使用，提高工廠生產(chǎn)、測試效率，具有高集成度、高速、高穩(wěn)定性的特點。

  武漢普賽斯電子是“武漢·中國光谷”一家高科技企業(yè)，專業(yè)研究和開發(fā)光通信器件產(chǎn)線監(jiān)測和測試方案，以及自動化生產(chǎn)設(shè)備。產(chǎn)品覆蓋BAR條器件、TO器件、OSA器件、光收發(fā)模塊、BOB等生產(chǎn)線，旨在為光電器件生產(chǎn)客戶提供完美的服務(wù)。

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