Dimension：賦能5G，光器件測(cè)試遇到的挑戰(zhàn)和解決方案

  ICCSZ訊 1.光器件測(cè)試遇到的挑戰(zhàn)

  隨著5G和數(shù)據(jù)中心加速建設(shè)，對(duì)高速高性能光器件/模塊的需求量越來越大，

  光器件的測(cè)試遇到前所未有的挑戰(zhàn)：

  ◆ 對(duì)光器件性能要求高，測(cè)試項(xiàng)目多，需要多種 高性能測(cè)試儀表；

  ◆  出貨量大，測(cè)試工序復(fù)雜，測(cè)試占用大量空間、 時(shí)間與人力；

  ◆ 測(cè)試設(shè)備費(fèi)用高昂，測(cè)試成本居高不下。

  2.光器件測(cè)試新的發(fā)展里程碑

  維度科技充分理解光器件測(cè)試的需求痛點(diǎn)，本著解決客戶實(shí)際測(cè)試需要的目的 ，經(jīng)過多年的高起點(diǎn)研發(fā)，現(xiàn)已全新推出一整套光器件測(cè)試解決方案，是目前 構(gòu)建光器件制造自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的理想選擇：

  ◆ All in One：平臺(tái)+測(cè)試模塊組合，為你提供一站式測(cè)試解決方案；

  ◆ 私人定制：測(cè)試模塊可靈活配置、可編程控制、可協(xié)同工作、可熱插拔、可擴(kuò)展、可升級(jí)……，真正屬于你自己專屬的測(cè)試解決方案；

  ◆ 創(chuàng)造價(jià)值：節(jié)省空間、時(shí)間、人力……，從而為您節(jié)省成本，創(chuàng)造更多價(jià)值。

  3.光器件一站式測(cè)試方案全貌

  維度科技自主開發(fā)的通用光學(xué)測(cè)試平臺(tái)，兼容光開關(guān)、光衰減器、光源、光功率計(jì)、誤碼儀等測(cè)試模塊，配合維度自有的光纖端面檢測(cè)儀和清潔機(jī)，即能夠快速實(shí)現(xiàn)對(duì)光器件性能和端面質(zhì)量的一站式測(cè)試和檢測(cè)。

  一張圖飽覽光器件測(cè)試一站式方案全貌：

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