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VI Systems推出12x25G并行光測試板

摘要:日前,光器件專家VI Systems公司(VI Systems GmbH)宣布推出其第二代12通道并行光收發(fā)器測試板,用于短距離數(shù)據(jù)通信高達300 Gbps的速率。

  ICCSZ訊(編譯:Debi)日前,光器件專家VI Systems公司(VI Systems GmbH)宣布推出其第二代12通道并行光收發(fā)器測試板,用于短距離數(shù)據(jù)通信高達300 Gbps的速率。該VHXT6212A-840是設計用于光互連距離超過300米的測試環(huán)境。

  高速光連接器是基于耦合到多模帶狀光纖的850-nm的垂直腔表面發(fā)射激光器(VCSEL)發(fā)射芯片陣列,以及PIN光電探測器陣列光纖。

  該發(fā)射器測試板提供高速電輸入連接器,用于每通道差分信號輸入和標準的SMA連接器電源電壓。光輸出信號是從專門的850-nm VCSEL芯片陣列產生,每個通道25 Gbps,也即光纖耦合由微透鏡陣列變成多通道帶狀光纖。每個輸出光纖是50/125-um多模光纖。帶狀光纖的特點就是設有扇出,這也是終止12xFC/ PC連接器。

  驅動電子線路符合InfiniBand EDR。發(fā)射器測試模塊被設定成,每信道小于200毫瓦的功率消耗。而VCSEL驅動器芯片通過一個USB至I2C總線轉換器通過一個基于Windows的計算機是可編程的。

  在接收端,VHXR6212A-840板配有專用的12通道PIN光電探測器芯片陣列用于700-870-nm波長,這是由微透鏡陣列光學具有50/125微米的多模光纖帶扇出與12xFC/ PC連接器的光信號輸入的光纖耦合。

  該測試板還為電源提供高速差分電輸出連接器和SMA連接器,且測試板還設有可調的輸出擺動大小和預加重模式和信號檢測的閾值。而發(fā)射器測試平臺指定用每通道小于180毫瓦的功率消耗。跨阻放大器通過一個USB至I2C總線轉換器通過一個基于Windows的計算機編程。

  VI Systems將在西部光電展的德國館#4601展位上展示該測試板。

內容來自:訊石光通訊咨詢網(wǎng)
本文地址:http://3xchallenge.com//Site/CN/News/2014/11/26/20141126012953531615.htm 轉載請保留文章出處
關鍵字: VI Systems
文章標題:VI Systems推出12x25G并行光測試板
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