橫河Meters & Instruments上市提高光學性能光譜分析儀

     橫河Meters & Instruments（總部：東京都立川市）2010年8月25日上市了在開發(fā)制造光通信設備及光學部件時測量光波分布的“光譜分析儀 AQ6370C”。該產品為“光譜分析儀AQ6370B”的后續(xù)機型，雜散光抑制比（對混入測量中的無用光可抑制多少的指標）達到了76dB，這是業(yè)界首次公示這一保證值。

　　據(jù)橫河介紹，精度較高的測量所花費的時間較原機型得到了改善，因此可提高開發(fā)時及生產線的測量作業(yè)效率，以及削減成本。測量精度方面，按照波長劃分測量光的單色儀（色散分光計）提高了性能，實現(xiàn)了0.02nm的波長分辨率及73dB的動態(tài)范圍。通過分離接近測量對象光的光學噪聲，可準確測量光譜。另外，測量時間方面，可在0.2秒內測量100nm的波長間隔。該產品可用于開發(fā)制造光收發(fā)器及光放大器等光學部件時的光學特性試驗及產品評測。

　　備有標準款及高性能款2種型號，標準款的價格為334萬日元起（不含稅），高性能款為364萬日元起（不含稅）。目標是2010年度包括海外市場在內銷售300臺。