LightconnectVOA通過5000小時(shí)壽命試驗(yàn)
訊石光通訊網(wǎng) 發(fā)布時(shí)間:2005/8/24 9:24:11 編者:ICCSZ
摘要:MEMS器件和模塊領(lǐng)先供應(yīng)商Lightconnect 今天宣布他們的5000系列快速可變衰減器通過了5000小時(shí)的老化試驗(yàn)。這是Telcordia GR-1221-Core可靠性測(cè)試規(guī)范中最嚴(yán)格的一個(gè)
MEMS器件和模塊領(lǐng)先供應(yīng)商Lightconnect 今天宣布他們的5000系列快速可變衰減器通過了5000小時(shí)的老化試驗(yàn)。這是Telcordia GR-1221-Core可靠性測(cè)試規(guī)范中最嚴(yán)格的一個(gè)部分,可以充分展示器件的可靠性。今年年初的時(shí)候,Lightconnect已經(jīng)宣布該系列產(chǎn)品通過了Telcordia GR-1209和GR-1221的測(cè)試,今天對(duì)于5000小時(shí)壽命試驗(yàn)的測(cè)試通過可以進(jìn)一步加強(qiáng)客戶對(duì)其產(chǎn)品的信心。Lightconnect的FVOA5000是一種小型化,低電壓驅(qū)動(dòng)的高性能光衰減器。Lightconnect公司CEO Sushil Shah表示影響可變衰減器可靠性最重要的因素是密封性,他們所有的產(chǎn)品的密封性能都在防濕防凝結(jié)方面具有突出的表現(xiàn)。
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