ICC訊 9月16-18日,第23屆中國(guó)光博會(huì)(CIOE 2021)在深圳寶安國(guó)際會(huì)展中心盛大舉行,上海嘉慧光電子技術(shù)有限公司攜一系列先進(jìn)測(cè)試測(cè)量?jī)x器精彩亮相光博會(huì),其中重點(diǎn)展示了偏振消光比測(cè)試儀、SLED低偏光源、插回?fù)p測(cè)試儀、高速功率計(jì)產(chǎn)品。
據(jù)副總經(jīng)理屈磊介紹,本次重點(diǎn)向光通訊行業(yè)客戶推薦偏振消光比測(cè)試儀(JW8605/JW8606)JW8606通道偏振消光比測(cè)試儀是上海嘉慧研發(fā)的一款用于保偏器件的偏振消光比(PER)檢測(cè)、光源的偏振度檢測(cè)、保偏光纖消光比檢測(cè)和其他保偏器件檢測(cè)的專業(yè)設(shè)備。最大PER可達(dá)50dB,支持自由空間輸入,1-4通道同時(shí)測(cè)量,互換接口FC/SC/LC,可選擇600-1100nm,1200-1630nm兩種波段。
SLED低偏光源(JW8009)具有低偏振消光比,可滿足保偏器件的生產(chǎn)、測(cè)試需求,輸出功率穩(wěn)定性高和波長(zhǎng)穩(wěn)定性好,能滿足客戶多重需求,可實(shí)現(xiàn)單一波長(zhǎng)的輸出,是科研和生產(chǎn)的理想儀表。廣泛用于光通信、光傳輸、光纖傳感等領(lǐng)域中的科研、生產(chǎn)和工程等領(lǐng)域。
插回?fù)p測(cè)試儀(JW8307-AL)是上海嘉慧經(jīng)典免纏繞回?fù)p儀JW8307的升級(jí)換代版本,新產(chǎn)品采用模塊化設(shè)計(jì)、具有更高的光源穩(wěn)定度,回?fù)p測(cè)試精度,以及更為豐富的測(cè)試模式和軟件應(yīng)用功能。免纏繞回?fù)p測(cè)試儀填補(bǔ)了國(guó)內(nèi)市場(chǎng)和技術(shù)的空白,極大的提高了光器件回波損耗的測(cè)試效率,同時(shí)針對(duì)一些不能或不便于纏繞的光器件的回波損耗測(cè)試給出了良好的解決方案。
該產(chǎn)品真正免纏繞回波損耗測(cè)試,無(wú)需匹配膏,自動(dòng)IL&RL測(cè)試,可同時(shí)顯示雙波長(zhǎng)IL&RL值,提供OPM、IL、RL、IL2,ILRL、ILRL2多種工作模式,提供高精度光功率計(jì)模式,測(cè)試范圍達(dá)+5dBm~-75dBm,提供USB/RS-232滿足不同需求,豐富的閾值設(shè)置、告警功能,光功率計(jì)部分可選積分球配置,功能強(qiáng)大的光器件應(yīng)用軟件,默認(rèn)被測(cè)光纜距離最大可測(cè)量1m-2km,實(shí)現(xiàn)模塊化產(chǎn)品后,調(diào)試,維修更加便捷。
高速功率計(jì)(JW8105S)具有波長(zhǎng)可設(shè)置,采樣速率最高10Ksps,采樣率可設(shè)定,大動(dòng)態(tài)測(cè)試范圍+10~-80dBm,可測(cè)PDL,可選擇光功率探測(cè)范圍,具有豐富的通信指令集及demo軟件支持,支持波長(zhǎng)編輯功能,帶觸發(fā)存儲(chǔ)功能,網(wǎng)口功能可選,支持模擬電壓輸出功能。
關(guān)于上海嘉慧光電子技術(shù)有限公司
上海嘉慧光電子技術(shù)有限公司成立于1998年,坐落于上海市奉賢區(qū)奉浦工業(yè)區(qū)。公司長(zhǎng)期立足于光通信網(wǎng)絡(luò)檢測(cè)研究,是集研發(fā)、生產(chǎn)和服務(wù)于一體的高新技術(shù)企業(yè)。主要產(chǎn)品有光源、光功率計(jì)、OTDR等各類便攜式光儀表,和以插回?fù)p、PDL、誤碼率檢測(cè)為基礎(chǔ)的光器件光模塊檢測(cè)系統(tǒng)。公司業(yè)務(wù)遍及國(guó)內(nèi)各電信運(yùn)營(yíng)商、電信工程公司和光器件設(shè)備制造商,產(chǎn)品符合國(guó)際通用標(biāo)準(zhǔn),適用于全球各地。
上海嘉慧是中國(guó)領(lǐng)先的光通信檢測(cè)技術(shù)解決方案供應(yīng)商,專注于光通信檢測(cè)技術(shù)研究與發(fā)展,堅(jiān)持穩(wěn)健經(jīng)營(yíng)、持續(xù)創(chuàng)新、開放合作。在光通信網(wǎng)絡(luò)建設(shè)、維護(hù)等領(lǐng)域構(gòu)建了完善的解決方案,為光器件生產(chǎn)商設(shè)備集成商和光通信研究,提供有競(jìng)爭(zhēng)力的光電檢測(cè)方案,并致力于使光通信檢測(cè)更為高效、便捷。