【CIOE2017】維勘科技：優(yōu)秀3D干涉儀幫助企業(yè)提高品質(zhì)

　　Iccsz訊（編輯：Aiur） 設(shè)備儀器是通訊領(lǐng)域不可或缺的部分，在CIOE2017上，數(shù)百家設(shè)備儀器商展出自己的優(yōu)勢產(chǎn)品。9月7日，訊石來到杭州維勘科技股份有限公司（展位：6號館6065、6066、6067），了解這家無源光器件檢測儀器商在本次CIOE上重點展出的產(chǎn)品。

　　維勘科技總經(jīng)理于宏波先生和銷售經(jīng)理汪彬彬女士接受訊石采訪，于總表示維勘科技的創(chuàng)始人，浙江大學教授汪凱巍博士看到了光通訊市場的需求旺盛以及國外設(shè)備的壟斷，決定投身于光通訊設(shè)備儀器領(lǐng)域，經(jīng)過潛心研究成功推出國產(chǎn)3D干涉儀、自動分揀機等設(shè)備。

　　眾所周知，設(shè)備儀器是需要不斷地進行研發(fā)投入，維勘科技是杭州市“青藍計劃”和高薪技術(shù)企業(yè)，除了自身花費大量資金用于設(shè)備研發(fā)，杭州政府也給公司極大的支持。得益于多方面有利因素，維勘科技自主設(shè)計研發(fā)的3D干涉儀成為國內(nèi)首屈一指的無源器件檢測設(shè)備。

WKFI-2SX 3D干涉儀

WFI-M 3D干涉儀

　　“3D干涉儀從技術(shù)層面來說，國產(chǎn)設(shè)備與國外同步。目前中國是全球最大光通訊市場，給了國產(chǎn)設(shè)備發(fā)揮的機會，光纖跳線產(chǎn)量極大，而光纖端面指標要求很高，維勘致力于幫助光器件生產(chǎn)企業(yè)更好地發(fā)現(xiàn)生產(chǎn)中的問題，提高出貨品質(zhì)”，于總?cè)绱苏f道。維勘在今年CIOE上重點展示其最新研發(fā)的光纖端面3D干涉儀。于總向訊石介紹：“傳統(tǒng)上，3D干涉儀測量范圍在-150~150nm，使得超低或超高的纖高往往被誤判為良品，但超高和超低又是當前光器件生產(chǎn)普遍現(xiàn)象。維勘通過獨創(chuàng)的頻率合成技術(shù)，將測量范圍擴大至7000nm，測量速度僅為0.7秒，還原更真實的纖高結(jié)果，更嚴格地檢測出次品。”

　　維勘科技在3D干涉儀研發(fā)上開創(chuàng)出自己的技術(shù)，產(chǎn)品成功獲得了中國計量科學研究院出具的檢測報告(證書編號：CDjc2017-519)

　　維勘科技具備先進成熟的技術(shù)，同時趕上了市場風口，2017年包括華為中興在內(nèi)等眾多企業(yè)要求下游供應商在生產(chǎn)光纖連接器時進行端面3D全檢，帶動檢測設(shè)備市場的旺盛。光纖端面3D干涉儀一種測量精度高、速度快、非接觸的檢測設(shè)備，被越來越多的光器件廠家重視，成為檢驗光纖連接器生產(chǎn)品質(zhì)的重要手段。

陶瓷插芯內(nèi)徑自動分揀機

　　除了3D干涉儀，維勘科技在陶瓷插芯檢測方面也有優(yōu)秀產(chǎn)品上市。隨著無源器件技術(shù)門檻降低，品質(zhì)和規(guī)模是競爭力的關(guān)鍵，而關(guān)鍵中的關(guān)鍵是實行自動化生產(chǎn)。維勘推出的WKID系列陶瓷插芯內(nèi)徑自動分揀機可以幫助企業(yè)降低用工成本，自動化效率幫助企業(yè)提升陶瓷插芯檢測速度與精度。

       CIOE2017維勘科技展位：6號館6065、6066、6067，歡迎業(yè)界同仁咨詢交流。

維勘團隊與訊石合影（左四于總，左三汪經(jīng)理）

　　杭州維勘科技于2012年由著名海歸博士汪凱巍教授帶領(lǐng)團隊成立，2013年成功推出產(chǎn)品，經(jīng)過數(shù)年發(fā)展，維勘科技產(chǎn)品通過了國家權(quán)威機構(gòu)認證并獲得業(yè)內(nèi)客戶的高度認可。維勘科技制造出的自動光纖端面干涉儀、手動光纖端面干涉儀、單多芯一體光纖端面干涉儀、光纖陶瓷插芯同心度檢測儀、光纖陶瓷插芯內(nèi)徑自動分揀機等多款精密檢測設(shè)備獲得市場客戶認可，成功積累出優(yōu)秀的市場口碑，現(xiàn)在還有多項光學項目在立項研發(fā)中，訊石期待維勘的精密檢測設(shè)備未來更加精確強大，產(chǎn)品更加多元化。