dBm 推出新型光探測(cè)器測(cè)試系統(tǒng)

    dBm光學(xué)公司 今天推出新的280型號(hào)的光電二極管測(cè)試系統(tǒng)。該系統(tǒng)允許PIN和APD制造廠商在研發(fā)，QA以及生產(chǎn)過程中進(jìn)行全參數(shù)的測(cè)試。該系統(tǒng)的測(cè)試非常精確，快速而且便宜，特別在進(jìn)行偏振敏感測(cè)試的時(shí)候特別有效。該系統(tǒng)支持傳統(tǒng)的全狀態(tài)PDR測(cè)試以及更加精確的4狀態(tài)和6狀態(tài)PDR測(cè)試方法。280系統(tǒng)采用了dBm公司獨(dú)特的實(shí)時(shí)參考技術(shù)，可以消除靈敏度測(cè)量中的許多錯(cuò)誤。該系統(tǒng)可以同時(shí)支持單個(gè)或成百個(gè)二極管的測(cè)量，測(cè)量噪聲低于200fA。