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EXFO發(fā)布|適用于制造和研發(fā)應(yīng)用的光測(cè)試解決方案(中)

摘要:本文為大家介紹EXFO的器件測(cè)試平臺(tái)CTP10、臺(tái)式可調(diào)諧激光器T200S和T500S的高性能規(guī)格、高效與經(jīng)濟(jì)。

  ICC訊 先前,EXFO發(fā)布了「適用于制造和研發(fā)應(yīng)用的光測(cè)試解決方案(上)」,來(lái)自EXFO的先進(jìn)光譜分析儀OSA20、可調(diào)諧濾波器XTA-50和XTM-50展現(xiàn)了在產(chǎn)線和實(shí)驗(yàn)室環(huán)境中的強(qiáng)大光測(cè)試能力。續(xù)上文,繼續(xù)為大家介紹EXFO的器件測(cè)試平臺(tái)CTP10、臺(tái)式可調(diào)諧激光器T200S和T500S的高性能規(guī)格、高效與經(jīng)濟(jì)。

  器件測(cè)試平臺(tái)

  CTP10是一種模塊化的測(cè)量平臺(tái),可高效地測(cè)試全天候運(yùn)行的高端口數(shù)無(wú)源器件。CTP10與一個(gè)或多個(gè)EXFO的掃頻可調(diào)諧激光器配合使用,提供非常高的掃頻插損(IL)、偏振相關(guān)損耗(PDL)和回?fù)p(RL)測(cè)量性能。

  1.在全速運(yùn)行時(shí)仍保持高性能規(guī)格

  即使在使用激光器,以100 nm/s的速度運(yùn)行時(shí),CTP10仍然能夠保持在業(yè)內(nèi)屬于高水準(zhǔn)的性能規(guī)格。您不再需要在掃描速度和測(cè)量精準(zhǔn)度之間做出妥協(xié),因?yàn)镃TP10在單次掃描中的動(dòng)態(tài)范圍可達(dá)70 dB,即使在掃描速度為100 nm/s的情況下其采樣分辨率也能達(dá)到1 pm。

  CTP10是鑒定高端口數(shù)先進(jìn)WDM器件(如波長(zhǎng)選擇開(kāi)關(guān)(WSS)的理想工具。它還特別適用于在研發(fā)和制造環(huán)境中對(duì)光子集成電路(PIC)進(jìn)行光測(cè)試。

  2.下一代平臺(tái)和模塊

  IL RL OPM2插損和回?fù)p測(cè)量模塊,配有兩個(gè)光檢測(cè)器

  IL PDL:插損和偏振相關(guān)損耗測(cè)量模塊,覆蓋C+L電信波段

  IL PDL OPM2:插損和偏振相關(guān)損耗模塊,配備兩個(gè)光檢測(cè)器,在CTP10的整個(gè)工作波長(zhǎng)范圍內(nèi)進(jìn)行測(cè)量

  SCAN SYNC:對(duì)掃頻波長(zhǎng)激光器進(jìn)行光采樣

  OPMx:光檢測(cè)器模塊,配有2、4或6個(gè)檢測(cè)器

  FBC & FBC-M:全波段合成器模塊,分別用于對(duì)IL和RL或IL和PDL進(jìn)行寬帶掃頻測(cè)量

  PCMx:光電流計(jì)模塊,可選配2個(gè)或6個(gè)輸入端口

  3.GUI功能強(qiáng)大、直觀

  內(nèi)嵌軟件提供功能強(qiáng)大、直觀的GUI,以圖形方式配置測(cè)試、執(zhí)行測(cè)量和分析。

  臺(tái)式可調(diào)諧激光器

  T200S和T500S是非常先進(jìn)、經(jīng)濟(jì)高效的解決方案,適用于所有研發(fā)和制造環(huán)境。

  這兩種激光器可以和CTP10或CT440器件測(cè)試儀組成掃頻測(cè)試系統(tǒng),用于IL、RL和PDL掃頻測(cè)量。此外,這兩種激光器還可以獨(dú)立使用,采用步進(jìn)模式。

  可用型號(hào)

  T200S有2個(gè)型號(hào):/O和/CL激光器,輸出功率為10 dBm,主要用于電信應(yīng)用。

  T500S有5個(gè)型號(hào):/O、/ES、/SCL、/CL和/CLU激光器,在特定波長(zhǎng)范圍內(nèi)輸出光功率可從10 dBm調(diào)節(jié)到13 dBm的最大可用光功率。

  將T200S和T500S系列激光器與EXFO的器件測(cè)試平臺(tái)CTP10結(jié)合起來(lái)使用,由此形成的測(cè)試解決方案能夠以高分辨率和高精度提供諸如插損(IL)、偏振相關(guān)損耗(PDL)或回?fù)p(RL)之類(lèi)的光譜測(cè)量。非常適合PIC行業(yè)既需測(cè)試效率,又需測(cè)試精確的要求!


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