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聯(lián)訊儀器推出400G跑流儀、芯片測試機(jī),400G/800G測試方案更加完整

摘要:400G將是骨干網(wǎng)升級(jí)和新建的方向,為此,聯(lián)訊推出包括400G 跑流儀,400G/800G 誤碼儀,25G NRZ DCA&28G CDR以及激光器芯片測試機(jī)在內(nèi)的一系列完整測試系統(tǒng)。

  ICC訊 隨著網(wǎng)絡(luò)飛快發(fā)展,越來越多的應(yīng)用需要更多的頻段支持,為滿足運(yùn)營商骨干網(wǎng)擴(kuò)容需求,400G將是骨干網(wǎng)升級(jí)和新建的方向。對于聯(lián)訊而言,我們的解決方案是能夠幫助客戶打造更可靠、更高效、更具成本效益的網(wǎng)絡(luò)系統(tǒng)。為此,聯(lián)訊推出包括400G 跑流儀,400G/800G 誤碼儀,25G NRZ DCA&28G CDR以及激光器芯片測試機(jī)在內(nèi)的一系列完整測試系統(tǒng)。

  400G測試方案原理圖

 I. 400G 跑流儀 NTA4100

  關(guān)鍵參數(shù)

  RS(514,544)實(shí)時(shí)編解碼

  端口類型: 支持1個(gè)OSFP、2個(gè)QSFPDD, 4個(gè)SFP56端口類型

  以太網(wǎng)的幀長60~16000字節(jié)可配置,點(diǎn)對點(diǎn)以太網(wǎng)鏈路連接

  分析方式:FEC Margin分析,收發(fā)包統(tǒng)計(jì),誤碼分析(端口或者每個(gè)通道),PCS通道的統(tǒng)計(jì)分析,F(xiàn)EC誤碼注入

 功能特點(diǎn)

  高帶寬高吞吐率,端口速率達(dá)400Gbps

  完全符合以太網(wǎng)協(xié)議的400G FEC功能實(shí)現(xiàn)

  提供400G 以太網(wǎng)MAC/PCS/PMA/PMD層的分析功能,高效診斷產(chǎn)品問題

  豐富的光模塊端口類型,支持通道間的偏移測量

  支持模塊MDIO讀寫

 II.400G/800G誤碼儀 PBT8856/PBT8812

  關(guān)鍵參數(shù)

  速率最高可到60GBaud (120Gbps @ Pam4)

  輸出幅度(差分)正常模式下凈輸出值>600mVpp

  上升下降時(shí)間 <10ps,抖動(dòng)(rms) <650fs,靈敏度100mVpp

  功能特點(diǎn)

  業(yè)務(wù)通道最高可支持 8x112 Gbps

  各通道可獨(dú)立配置為 NRZ 或 PAM4 信號(hào)制式

  快速上升沿、低固有抖動(dòng)

  內(nèi)置 RF 開關(guān), 實(shí)現(xiàn)軟件程控切換觸發(fā)時(shí)鐘端口

  支持FEC 分析,包括800G FEC

  提供帶溫循套件的一體式解決方案

 III. 25G NRZ DCA DCA6201

  關(guān)鍵參數(shù)

  波長范圍 750nm~1650nm;RMS 噪聲15uW 典型值(最大值: 18uW)

  靈敏度(進(jìn)行模板測試的最小平均功率) –8 dBm

  時(shí)基間隔精度 1.5ps

  電通道帶寬 30GHz(典型值),本底噪聲 <1mV(典型值)

  功能特點(diǎn)

  支持光/電眼圖測試;速率支持28GBaud,25GBaud

  pattern-lock功能選件;PAM4信號(hào)測試功能選件

  帶寬高達(dá)30GHz

  IV. 28G CDR CR6201

  關(guān)鍵參數(shù)

  恢復(fù)時(shí)鐘隨機(jī)抖動(dòng)(RMS) <290fs,速率范圍 20Gbaud~28.9Gbaud

  支持調(diào)制類型 NRZ/PAM4,接收機(jī)靈敏度 多模-5dBm 單模-15dbm

  輸入光信號(hào)功率范圍 <+6dbm,輸入波長范圍 850nm / 1250 ~1650nm

  功能特點(diǎn)

  支持從NRZ和PAM4信號(hào)提供時(shí)鐘恢復(fù)功能,包含可調(diào)環(huán)路帶寬和可選峰值,具有高靈敏度和低固有抖動(dòng)性能

  強(qiáng)大的EQ均衡能力,可以從閉合的眼圖信號(hào)中恢復(fù)時(shí)鐘

  集成時(shí)鐘恢復(fù)單元和光電(O/E)轉(zhuǎn)換器及光分路器

  支持光信號(hào)和電信號(hào)的時(shí)鐘恢復(fù),同時(shí)支持單模多模

  V. 激光器芯片測試機(jī)

  關(guān)鍵參數(shù)光譜測試波長范圍800~1650nm

  LIV測試采用靶面尺寸為10*10mm大面積PD,支持前光與背光測試

  單顆芯片測試時(shí)間<6.5s

  Chip ID識(shí)別率>99%

  高溫測試重復(fù)性:閾值電流Ith<±1%,光功率Po<±2%,電壓Vf<±0.02V,峰值波長<±0.2nm,SMSR<±2dB

  功能特點(diǎn)

      測試載臺(tái)采用特殊基材及加工工藝,確保測試載臺(tái)高導(dǎo)熱性及測試壽命(>2年)

  支持DFB及EML激光器測試

  支持CW/Pulse 方式加電

  獨(dú)特的耦合技術(shù),確保光譜測試準(zhǔn)確性

  開放的測試算法定義,智能的數(shù)據(jù)管理系統(tǒng),可支持客戶定制

  技術(shù)永遠(yuǎn)不會(huì)停止前進(jìn)的腳步,聯(lián)訊儀器作為國產(chǎn)高端光電測試裝備的領(lǐng)先者,致力于幫助客戶加速創(chuàng)新,創(chuàng)造一個(gè)安全互聯(lián)的生態(tài)網(wǎng)絡(luò)環(huán)境。努力為光通信產(chǎn)品測試提供更加優(yōu)質(zhì)高效的測試解決方案。

      要了解更多,咨詢186-6029-8596。聯(lián)訊期待與您攜手并進(jìn),共創(chuàng)光明未來。

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