CIOE 2024 | EXFO五大展臺亮點揭秘，共繪光通信未來藍圖

  第二十五屆中國國際光電博覽會（CIOE中國光博會）將于2024年9月11—13日在深圳國際會展中心舉辦。EXFO在2024年中國光博會（CIOE）的10B53展臺上，將帶來一系列引人注目的重磅首發(fā)產(chǎn)品，期待您蒞臨。

  展臺1A

  PIC晶圓級全自動測試探針臺

  將展出業(yè)界領(lǐng)先的晶圓級多端口端面耦合探針測試平臺。

  從PIC晶圓到光學(xué)組件和模塊自動測試——集成、無縫和快速的硅基光電子測試。

  展臺1B

  從設(shè)計到量產(chǎn)的自動 PIC 光電芯片的測試

  展出有源和無源光電芯片測試方案。在單個晶圓上測試數(shù)百甚至數(shù)千個組件時，自動化和可重構(gòu)變得至關(guān)重要，EXFO的模塊化光測試平臺可以進行非常容易地在一個機框中搭建激光器+功率計等測試配置，并可以根據(jù)需要添加可調(diào)光衰減器、光開關(guān)或不同類型的光源等。EXFO也可以提供獨立的 MXS系列 矩陣開關(guān)，從而可以幫助用戶快速搭建可重構(gòu)的測試系統(tǒng)。

  展臺 2

  400G/800G/1.6T高速光模塊測試方案

  將展出全新的BA-4000-L2：一款針對800G DR4/FR4/LR/ZR光模塊及相關(guān)芯片和器件的1層誤碼率測試儀和以太網(wǎng) (L2) 流量分析儀。它能滿足800G數(shù)通光模塊以及相干光模塊的全面測試要求。

  解決方案包括二層數(shù)據(jù)流量的產(chǎn)生和丟包率分析、PAM4 FEC測試（包括FEC統(tǒng)計）、突發(fā)錯誤檢測和從主機到終端的誤碼率計算，更可提供實時的高精度時延測試，從而在測試400G/800G高速光模塊（包括LPO/LRO/TRO）時提供業(yè)界最可靠的流量及誤碼測量。

  BA-4000-L2具備的物理層誤碼測試能力和完整的以太網(wǎng)二層支持能力使其適用于更廣泛的測試需求，包括研發(fā)測試、中試/量產(chǎn)測試和出廠/來料檢驗等，不僅可獨立用于光模塊驗證測試，更可以用于與數(shù)通設(shè)備的對傳測試。

  展臺 3

  面向量產(chǎn)的自動化測試：器件及800ZR模塊

  將展示基于OIF 互操作性測試架構(gòu)搭建一站式測試平臺及控制軟件；800G相干模塊跑流測試、800G相干模塊Tx，Rx全自動化性能測試以及800G相干模塊全自動互通性測試，包含OSNR可調(diào)的鏈路仿真；同時展示如何利用大矩陣光開關(guān)陣列搭建全交叉測試矩陣，提高測試吞吐量。

  展臺 4

  增強的400G/800G現(xiàn)場及數(shù)據(jù)中心測試方案

  400G/800G算力中心的涌現(xiàn)，帶來巨量多模MPO光纖的運用；這對MPO-8/12/16/24的端面、OLTS（長度、損耗、極性）測試和故障診斷提出更高的要求。EXFO的MPO端面、OLTS和故障排查工具為您打造堅強的算力底座提供有力支撐；同時400G光模塊和網(wǎng)絡(luò)測試儀現(xiàn)場即可快速驗證光模塊和網(wǎng)絡(luò)（包括DCI互聯(lián)網(wǎng)絡(luò)）品質(zhì)。

  展臺 5

  5G&無線/寬帶接入測試方案

  展示 EXFO 最新的模塊化射頻測試解決方案5GPro頻譜分析儀 , 幫助用戶洞察5G射頻環(huán)境。寬帶接入測試方案 包含全新設(shè)計的超便攜且支持智能鏈路圖的 OTDR AXS-115 ，新一代光功率計 PX1及 手持式超千兆以太網(wǎng)寬帶和WIFI測試儀EX-10。

展臺專家 答疑切磋

來自EXFO全球的行業(yè)資深技術(shù)專家將在10B53展臺

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