CTP10 光譜分辨率提高了50倍
強大的無源光器件鑒定功能
集成光子技術為微環(huán)諧振腔等突破性器件掃清了障礙,這些器件有望徹底改變電信行業(yè)的面貌。然而,到目前為止,此類復雜器件的光譜測試一直受限于測試系統(tǒng)的能力,經(jīng)常不得不犧牲測量的精準度和速度才能獲得鑒定它們所需要的高光譜分辨率。
現(xiàn)在,EXFO 很高興地宣布推出新的軟件版本,使 CTP10 能夠?qū)崿F(xiàn) 20 fm 的光譜分辨率,從而將該模塊化器件測試平臺的分辨率提高了50倍。
借助這個新功能,我們可以對光譜對比度要求很高的無源光器件進行亞皮米級的損耗測量(IL、RL 和 PDL)。但這種高分辨率并沒有犧牲測量的波長精準度或可重復性,可以在很高的掃描速度下實現(xiàn)——非常適合進行重復的晶圓級測試。
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只需立即下載新版本的軟件,即可獲得:
· 高分辨率的測量功能:最高可達20 fm(掃描速度為20 nm/s時)。
· 觸發(fā)式記錄測量功能:增強了測量瞬態(tài)光學現(xiàn)象或通過外部觸發(fā)測量的能力。
全面兼容 EXFO 的最新連續(xù)可調(diào)諧激光器:T200S 和 T500S
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