CIOE 2020 | Santec亮相新一代波長(zhǎng)可調(diào)諧激光器

  ICC訊 近日，在2020年CIOE中國(guó)光博會(huì)上，光通信測(cè)試測(cè)量領(lǐng)導(dǎo)者日本Santec公司（圣德科）攜最新測(cè)量?jī)x器和系統(tǒng)方案隆重登場(chǎng)亮相，與光通信行業(yè)客戶(hù)展開(kāi)交流與合作，為客戶(hù)的光器件研發(fā)生產(chǎn)提供專(zhuān)業(yè)測(cè)試測(cè)量意見(jiàn)，滿(mǎn)足當(dāng)前客戶(hù)因光通信速率升級(jí)而產(chǎn)生的高端測(cè)量需求，新產(chǎn)品獲得場(chǎng)內(nèi)專(zhuān)業(yè)觀眾和客戶(hù)的高度關(guān)注與認(rèn)可。

  Santec公司銷(xiāo)售總監(jiān)幺德全先生向訊石表示，日本Santec公司致力于光通信技術(shù)的革新、探索世界和分享信息。為響應(yīng)廣大客戶(hù)在各領(lǐng)域中的應(yīng)用需求，Santec在激光器技術(shù)研發(fā)方面成功地實(shí)現(xiàn)了實(shí)用化，成功于1987年成功研發(fā)出世界首臺(tái)商用波長(zhǎng)可調(diào)諧光源。同時(shí)Santec對(duì)于快速掃描測(cè)試系統(tǒng)有著嚴(yán)格的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，利用以高分辨率和高精度為標(biāo)準(zhǔn)的高速分析測(cè)試解決方案。2001年，日本Santec成立圣德科(上海)光通信有限公司，以更好地服務(wù)中國(guó)地區(qū)客戶(hù)。

  Santec公司產(chǎn)品專(zhuān)家曹旭也向訊石介紹，公司在本次光博會(huì)上帶來(lái)了最新版本的第7代高性能、高速TSL-770波長(zhǎng)可調(diào)諧激光器，該產(chǎn)品基于Santec公司多年的經(jīng)驗(yàn)與實(shí)踐，通過(guò)重新設(shè)計(jì)激光諧振器 以及控制電路，掃描速度是之前的機(jī)型的2倍，帶寬掃描為1.5倍，并且實(shí)現(xiàn)了窄光譜線(xiàn)寬度和低噪聲化的轉(zhuǎn)折型號(hào)。

  據(jù)訊石了解，TSL-770的波長(zhǎng)范圍最大可選160nm，提升了測(cè)量的產(chǎn)量及精度。是評(píng)價(jià)現(xiàn)場(chǎng)、研發(fā)、基礎(chǔ)研究等各種應(yīng)用程序中理想光源。在降低光學(xué)噪聲方面，TSL-770大幅度提升了外腔激光器的Q值和波長(zhǎng)穩(wěn)定性。據(jù)此，此光源可在硅基光電電子學(xué)、光學(xué)和光干涉測(cè)量，光譜分析等研究領(lǐng)域。

  同時(shí)，Santec公司還展出市場(chǎng)代表型號(hào)TSL-550波長(zhǎng)可調(diào)諧激光器，TSL-550是高性?xún)r(jià)比的Santec波長(zhǎng)可調(diào)諧光源，具有高光功率和穩(wěn)定性。該型號(hào)采用最新腔體設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)了更低的ASE噪聲，將信噪比特性提到90dB/0.1nm，同時(shí)兼顧了超過(guò)+10dBm的光輸出功率。

  TSL-550是光器件尤其是密集型波分復(fù)用類(lèi)的無(wú)源器件、波長(zhǎng)選擇開(kāi)關(guān)(WSS)等需要兼顧功率計(jì)噪聲影響的高要求產(chǎn)品測(cè)試的理想選擇。相對(duì)上一代產(chǎn)品，TSL-550使重復(fù)掃描所需時(shí)間減半，同時(shí)搭配Santec公司功率計(jì)、偏振控制器等可以輕松實(shí)現(xiàn)WDL、PDL等參數(shù)的測(cè)試。

  除此之外，Santec公司還向其客戶(hù)介紹了快速掃描測(cè)試系統(tǒng)，該系統(tǒng)結(jié)合Santec公司的TSL系列可調(diào)諧激光器與光功率計(jì)(MPM-210或MPM-200)、數(shù)據(jù)模塊(PCU-100)和自定義軟件，組成完整的掃描測(cè)試系統(tǒng)，可以?xún)?yōu)化WDL和PDL測(cè)量用于研發(fā)和生產(chǎn)環(huán)境。

  此系統(tǒng)也可簡(jiǎn)化為使用Santec 數(shù)據(jù)采集模塊(SPU-100)搭配其他光學(xué)的功率計(jì)或探測(cè)器，可廣泛用于WDL測(cè)試。通過(guò)采樣和縮放算法在保持測(cè)試方案完整性上可以保持最大測(cè)試性能輸出。

  公司還向訊石表示，該系統(tǒng)通過(guò)實(shí)時(shí)記錄可以同時(shí)獲取可調(diào)激光器的輸出功率與經(jīng)過(guò)DUT的傳輸功率，從而精確計(jì)算出WDL/PDL的數(shù)據(jù)。采用Mueller矩陣生成快速的PDL測(cè)量方案。尤其適用于DWDM和高Q光子器件光譜特性的測(cè)試。通過(guò)快速掃描和精確測(cè)量可有效節(jié)省時(shí)間，以確保測(cè)試設(shè)備的完整性和有效性。