光電九月，綻放科研之光 | 武漢普賽斯電子攜高速400G測(cè)試解決方案參展CIOE 2020

  普賽斯展位號(hào)：4號(hào)館 通信系統(tǒng)設(shè)備館4A25

  參展時(shí)間：2020年9月9-11日

  參展地點(diǎn)：深圳會(huì)展中心(寶安新展館)

  專(zhuān)業(yè)光電測(cè)試解決方案供應(yīng)商---武漢普賽斯電子將出席2020年9月9日-11日第22屆中國(guó)國(guó)際光電博覽會(huì)。屆時(shí)，武漢普賽斯電子技術(shù)有限公司將攜全系列光芯片、光組件、光器件、光模塊測(cè)試設(shè)備與最新技術(shù)方案亮相本屆光博會(huì)。普賽斯電子致力于求精、創(chuàng)新的企業(yè)工匠精神，讓光電企業(yè)的制造與測(cè)試更高效。

  良工鍛煉凡幾年，鑄得寶劍名龍泉。在今年的光博會(huì)上，武漢普賽斯電子將現(xiàn)場(chǎng)展出行業(yè)內(nèi)領(lǐng)先的光通信測(cè)試解決方案，包括COC老化系統(tǒng)、BAR條自動(dòng)測(cè)試機(jī)、探測(cè)器組件測(cè)試分揀一體機(jī)、CHIP TESTER、全新8路ED收發(fā)400G高速誤碼儀、SFP模塊老化、LD集成式老化系統(tǒng)等，武漢普賽斯全體員工誠(chéng)邀廣大客戶(hù)朋友蒞臨展會(huì)現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行交流指導(dǎo)。

  COC老化系統(tǒng)

  BAR條自動(dòng)測(cè)試機(jī)

  CHIP TESTER

  400G 高速誤碼儀

  SFP模塊老化系統(tǒng)