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高功率激光器PER測試解決方案

訊石光通訊網(wǎng)   發(fā)布時間:2023/2/3 15:45:47  編者:santec
摘要：Santec 的偏振消光比測試儀 PEM-340可提供高功率的PER測試解決方案

  隨著流量高速增長，相干技術(shù)會繼續(xù)下沉，相干光模塊的市場空間還是非常廣闊， 相干光模塊的研發(fā)和生產(chǎn)仍然會是產(chǎn)業(yè)的一個新的方向和熱點。

  相干光模塊發(fā)送端的ITLA激光器市場需求也在加大， 偏振消光比(PER)是ITLA眾多測試需求中必不可少的一項，然而測試工程師面臨的一個難點就是PER測試設(shè)備的入射功率通常在10dBm以內(nèi)，因此，工程師需要額外增加一路分光器來滿足測試設(shè)備入射功率的限制。更重要的是， 光路中增加的光器件會引入更多的不確定性，并造成測試精度的惡化。

  如何解決呢?

  Santec 的偏振消光比測試儀 PEM-340可提供高功率的PER測試解決方案。PEM-340 高功率選項，入射光功率最高可達(dá)20dBm， 高功率激光器可以直接輸出到測試設(shè)備，完美解決之前需要引入其他分光器件的難度。

激光器PER測試搭建

PEM-340 性能指標(biāo)

內(nèi)容來自：santec 圣德科
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關(guān)鍵字: 激光器 PER 相干 偏振消光比
文章標(biāo)題:高功率激光器PER測試解決方案
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