中星聯(lián)華最新高速光電測(cè)試解決方案，助力光通信測(cè)試

  ICC訊 7月11日-13日，慕尼黑上海電子展在上海國(guó)家會(huì)展中心舉行，其作為電子行業(yè)年度重大盛事，匯聚了國(guó)內(nèi)外領(lǐng)先企業(yè)，為全球電子產(chǎn)業(yè)提供了創(chuàng)新技術(shù)交流平臺(tái)。高頻高速電子測(cè)試測(cè)量和監(jiān)測(cè)方案提供商——中星聯(lián)華科技(北京)有限公司(以下簡(jiǎn)稱：中星聯(lián)華)受邀參與此次盛會(huì)，并攜多款產(chǎn)品和多種解決方案與工程師們現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行技術(shù)交流。

  在此次展會(huì)中，中星聯(lián)華除了展出復(fù)雜電磁環(huán)境電磁兼容測(cè)試和衛(wèi)星通信測(cè)試系列的解決方案外，還在現(xiàn)場(chǎng)重點(diǎn)展出了高速光電測(cè)試解決方案中的產(chǎn)品：64GBd 時(shí)鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)儀和XBERT系列高速串行誤碼儀 ，吸引了眾多參展人員的駐足了解和交流。

  64GBaud時(shí)鐘恢復(fù)儀

  SL3300A是一款能夠支持光/電時(shí)鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)的儀器，最高可支持64GBd的NRZ/PAM4，環(huán)路帶寬可在20MHz范圍內(nèi)調(diào)節(jié)，支持環(huán)路峰值10擋位調(diào)節(jié)，支持內(nèi)部均衡調(diào)節(jié)，在閉合眼下也能恢復(fù)時(shí)鐘能夠提供內(nèi)置的分路器、光電轉(zhuǎn)換模塊等，極大的的簡(jiǎn)化了用戶測(cè)試環(huán)境。除時(shí)鐘恢復(fù)模式外，SL3300A還能夠工作在時(shí)鐘產(chǎn)生模式，作為一臺(tái)時(shí)鐘源使用而無需外部信號(hào)輸入。不僅體積小巧(高88mm,寬220mm,深525mm)，還具有本地控制和遠(yuǎn)程控制功能。

  XBERT系列高速串行誤碼儀

  作為國(guó)內(nèi)高速誤碼儀研發(fā)領(lǐng)軍供應(yīng)商，中星聯(lián)華還重點(diǎn)展示了XBERT系列高速串行誤碼儀。XBERT系列高速串行誤碼儀具有優(yōu)異的性能指標(biāo)、豐富的功能特點(diǎn)、靈活的選件配置和超高的整機(jī)集成度，為高速串行電路產(chǎn)品預(yù)研、設(shè)計(jì)和生產(chǎn)測(cè)試提供了強(qiáng)大的性能和靈活性保障。

  全系列產(chǎn)品具有速率lkbps連續(xù)可調(diào)的特點(diǎn)，有效的保證了測(cè)試的靈活性和全面性，可以有效測(cè)試被測(cè)電路的余量和極限參數(shù)。同時(shí)可編程碼型發(fā)生器(PPG)能夠提供多級(jí)去加重，補(bǔ)償信號(hào)在傳輸過程中的損耗，改善信號(hào)質(zhì)量。誤碼檢測(cè)器(ED)內(nèi)置了均衡電路，無需外接有源或無源的信號(hào)調(diào)理電路來保證鏈路的信號(hào)完整性，同時(shí)內(nèi)置快速鎖定的時(shí)鐘恢復(fù)模塊，保證了誤碼測(cè)試時(shí)鏈路的穩(wěn)定性，使得誤碼檢測(cè)器自身誤碼率小于10-15的嚴(yán)格要求，保證在惡劣復(fù)雜的測(cè)試環(huán)境中誤碼測(cè)試的準(zhǔn)確性。

  慕尼黑上海電子展的圓滿結(jié)束，也是中星聯(lián)華新旅程的開始。未來中星聯(lián)華科技將以創(chuàng)新測(cè)試工具加速相關(guān)領(lǐng)域技術(shù)發(fā)展，推動(dòng)所服務(wù)行業(yè)的迭代更新，為人類文明進(jìn)步增磚添瓦。

  關(guān)于中星聯(lián)華

  中星聯(lián)華成立于2009年，是一家專業(yè)從事微波毫米波和光通信領(lǐng)域測(cè)試測(cè)量?jī)x器研發(fā)的國(guó)家高新技術(shù)企業(yè)，是國(guó)內(nèi)少有的高速率、大帶寬、寬頻帶測(cè)試測(cè)量品牌，其研發(fā)的超高速誤碼儀、時(shí)鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)儀以及微波信號(hào)源產(chǎn)品，賦能光通信傳輸、消費(fèi)電子高速接口、光模塊生產(chǎn)測(cè)試、數(shù)據(jù)中心、計(jì)算機(jī)總線測(cè)試等領(lǐng)域，為高速互連特性驗(yàn)證、可靠性一致性測(cè)試、圖形產(chǎn)生和碼型對(duì)比提供優(yōu)質(zhì)的技術(shù)支持與軟硬件保障。