重大突破!盛為芯成功研發(fā)首個(gè)全球領(lǐng)先的DFB和EML測(cè)試解決方案

訊石光通訊網(wǎng) 2021/12/3 9:24:15

  ICC訊 基于技術(shù)先導(dǎo)、測(cè)試效率提升、成本優(yōu)化等方面考慮,歷經(jīng)1年的反復(fù)探索和研究,盛為芯團(tuán)隊(duì)成功研發(fā)了集芯片常高溫和低溫性能測(cè)試、AOI自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)、發(fā)散角測(cè)試功能于一體的盛為芯第六代芯片測(cè)試機(jī),突破了設(shè)備的單一功能限制,實(shí)現(xiàn)了測(cè)試設(shè)備多項(xiàng)功能的智能化、集成化、迭代化和國(guó)產(chǎn)化。

  多功能集成

      靈活的測(cè)試解決方案

  盛為芯提供更加靈活的測(cè)試解決方案,實(shí)現(xiàn)單溫測(cè)試時(shí)間控制在4秒,比傳統(tǒng)轉(zhuǎn)盤式方案測(cè)試效率提高20%以上。盛為芯LD芯片常高溫測(cè)試已累計(jì)3億顆,LD芯片低溫測(cè)試和EML芯片測(cè)試已累計(jì)1000萬(wàn)顆,OCR識(shí)別已累積超5000萬(wàn)顆。

  獨(dú)家AOI和發(fā)散角測(cè)試集成功能

  盛為芯全球獨(dú)家提供AOI功能和發(fā)散角測(cè)試功能的光芯片測(cè)試集成解決方案,為光芯片實(shí)現(xiàn)100%發(fā)散角功能測(cè)試,AOI自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)可覆蓋脊波導(dǎo)發(fā)光區(qū)2μm范圍,四面檢驗(yàn)并識(shí)別芯片發(fā)光條異常、臟污、鈍化層脫落多類型外觀缺陷和20多種字體,良率高達(dá)99.5%以上。

  功能集成,降本增效

  盛為芯集芯片常高溫和低溫性能測(cè)試、AOI自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)、發(fā)散角測(cè)試功能于一體的測(cè)試解決方案,將光芯片測(cè)試效率綜合提高一倍,測(cè)試成本綜合降低50%以上,在加強(qiáng)盛為芯和客戶競(jìng)爭(zhēng)力的同時(shí),更為我國(guó)25G DFB和10G EML高端光芯片打破國(guó)外限制、實(shí)現(xiàn)快速量產(chǎn)提供助力。

  盛為芯科技

  成立于2016年的盛為芯科技是國(guó)內(nèi)首家專業(yè)提供光通信和光傳感領(lǐng)域的中高端芯片后工藝解決方案的公司,擁有機(jī)械、電子、自動(dòng)化、軟件算法、光器件等多學(xué)科的集成研發(fā)成果,在智能化高精度機(jī)器視覺(jué)識(shí)別分析、運(yùn)動(dòng)控制精度、高精度測(cè)試封裝工藝等方面擁有多項(xiàng)核心技術(shù),是國(guó)內(nèi)唯一一家25G EML、56G EML、3D傳感VCSEL、激光雷達(dá)等光芯片技術(shù)解決方案得到行業(yè)尖端客戶認(rèn)可的企業(yè)。公司擁有1700平千級(jí)凈化生產(chǎn)車間,4條配備了先進(jìn)設(shè)備的產(chǎn)品線。2019年,盛為芯在美國(guó)西雅圖成立全資子公司,利用美國(guó)光電子先進(jìn)的技術(shù)和豐富的人才資源進(jìn)行新一代技術(shù)的研發(fā)。

新聞來(lái)源:盛為芯

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