ICC訊 2022年9月7日-9日,第24中國國際光電博覽會(CIOE 2022)將在深圳國際會展中心(寶安)舉辦。
武漢普賽斯電子技術(shù)有限公司屆時(shí)將帶去自主研發(fā)生產(chǎn)的VCSEL測試機(jī)、Chip自動測試系統(tǒng)、800G誤碼儀、器件及模塊三溫測試系統(tǒng)、脈沖源表、老化設(shè)備等產(chǎn)品及方案,誠邀您蒞臨信息通信展7號館7A37普賽斯展位參觀、交流及業(yè)務(wù)洽談。
VCSEL 測試機(jī)(PSS WT-201)
普賽斯高功率VCSEL測試機(jī)用于面發(fā)射類型VCSEL的Wafer測試,支持芯片的LIV、光譜、近場、遠(yuǎn)場相關(guān)參數(shù)的測試,視覺自動識別,全自動完成每一顆芯片的測試;支持常溫、高溫雙溫測試,高溫測試溫度可由用戶自定。兼容多種不同尺寸的Wafer,向用戶開放測量數(shù)據(jù)庫,用于后續(xù)篩分工序。
產(chǎn)品應(yīng)用
典型的人臉識別、車載雷達(dá)等應(yīng)用的VCSEL 芯片測試
高功率面發(fā)射芯片的驗(yàn)證測試
產(chǎn)品特點(diǎn)
集成自制超窄脈沖 SMU、最小脈沖到 1us,最大電流 30A
積分球同步收光,支持短脈沖 LIV 測試和光譜測試
支持晶圓位置識別和自動調(diào)整
測試載臺采用高導(dǎo)熱材料,TEC溫控,溫度范圍可支持15~100°C
_支持四線制電壓測試,排除環(huán)境線損對芯片電壓測試結(jié)果的影響
_支持快速光譜測試;支持NF均勻性與壞點(diǎn)檢測;支持FF測試發(fā)散角測試
_專利技術(shù)開發(fā)的低感高電流探針,支持窄脈沖大電流測試
800G 誤碼儀(PSS BERT1A881)
普賽斯800G高速誤碼測試系統(tǒng)(PSS BERT1A881)是一款針對于多通道PAM4和NRZ應(yīng)用的高速信號誤碼性能分析儀,可支持8x112Gb/s PAM4信號測試,設(shè)備包含8路PPG,8路ED收發(fā)端信號可同時(shí)或者獨(dú)立工作。
發(fā)端包含多級預(yù)加重調(diào)節(jié)模式,可針對PAM4信號進(jìn)行眼型調(diào)節(jié)等功能,收端包含 CTLE均衡調(diào)節(jié),也可支持FFE、DFE等均衡功能,支持FEC功能KP4/KR4 FEC協(xié)議,Symbol Errors分析,具備SNR監(jiān)測功能。
產(chǎn)品應(yīng)用
多通道高速模塊收發(fā)測試
器件研發(fā)生產(chǎn)測試
_ 有源光纜 (AOC), 高速線纜 (DAC)測試
產(chǎn)品特點(diǎn)
多通道選擇:最高支持8通道獨(dú)立或同時(shí)工作
PAM4速率選擇:支持24.33~57.8GBaud,可定制
多碼型選擇:PRBS7/9/11/13/15/16/23/31、PRBS7~31Q、SSPRQ、JP03A、JP03B、CID jitter tolerance pattern、Transmitter linearity test pattern、User pattern等
測試載臺采用高導(dǎo)熱材料,TEC溫控,溫度范圍可支持15~100°C
_發(fā)端支持預(yù)加重功能,收端支持均衡功能設(shè)置,支持CTLE、FFE、DFE等調(diào)節(jié)模式
_信號上升下降時(shí)間短,低抖動
_KR4/KP4 FEC功能,Symbol Errors錯(cuò)誤分布解析
BOSA 三溫測試系統(tǒng)(PSS BOSA3T10801)
普賽斯BOSA三溫測試系統(tǒng)支持BOSA器件工業(yè)級低溫、常溫、高溫的性能測試,包括LIV、APD光電特性測試以及光譜測試。系統(tǒng)采樣TEC控溫,溫度范圍為-40℃~85℃,相比使用傳統(tǒng)的高低溫箱控溫,具有控溫效率高,溫度穩(wěn)定性、均勻性好,測試效率高,操作簡便的特點(diǎn)。
產(chǎn)品應(yīng)用
BOSA器件的多路三溫綜合測試
產(chǎn)品特點(diǎn)
支持低溫-40℃、常溫、高溫85℃條件下,BOSA的LIV掃描和光譜測試、Vbr、Id、Res、RL、Icc等綜合性能測試
支持一鍵測試,以及三溫?cái)?shù)據(jù)對比
單工位4路測試,雙工位共享OSA,節(jié)約設(shè)備資源和成本
小型TEC溫控測試夾具,溫控速度快,溫度穩(wěn)定性和均勻性好
大功率脈沖源(PSS PLT1401)
PSS PLT1401脈沖源適用于激光雷達(dá)TO、VCSEL陣列等大功率激光器的測試,支持脈沖PIV特性曲線和特性參數(shù)的測試,以及光譜特性測試(需要外接光譜儀)。儀表集脈沖電壓源、電流表、電壓表和光功率計(jì)等功能于一體,具有體積小、測試速度快、使用簡單的特點(diǎn)。
產(chǎn)品應(yīng)用
大功率激光雷達(dá)TO測試
VCSEL激光器陣列的測試
產(chǎn)品特點(diǎn)
支持ns級脈沖輸出與測試
支持脈沖PIV掃描測試
支持脈沖波形檢測
最大輸出電壓 40V,驅(qū)動電流可達(dá)到30A
_最小脈寬200ns,占空比≤ 0.1%
_提供外置積分球接口用于大功率檢測
_PD 響應(yīng)波長范圍 400~1700nm
_支持本地和遠(yuǎn)程數(shù)據(jù)庫,支持工業(yè)生產(chǎn)MES系統(tǒng)
更多產(chǎn)品及服務(wù)
誠邀各位新老客戶蒞臨展位參觀交流
7號館 7A37
新聞來源:訊石光通訊網(wǎng)
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