ICC訊 2021年9月16-18日,武漢普賽斯電子技術(shù)有限公司參加中國國際光電博覽會(huì)(CIOE 2021)深圳國際會(huì)展中心(寶安新館)展位號(hào)4A78,重點(diǎn)展示了多款芯片測試類、器件測試類產(chǎn)品以及普賽斯儀表公司的高精度儀表產(chǎn)品。
CHIP自動(dòng)測試系統(tǒng)
普賽斯chip自動(dòng)測試系統(tǒng)應(yīng)用于光芯片 LD-CHIP 高溫/常溫 LIV 測試、SMSR 測試及背光抽測并 對(duì)不同測試結(jié)果進(jìn)行歸類分檔篩選。芯片 wafer 藍(lán)膜上料,CHIP-ID 自動(dòng)識(shí)別記 憶匹配測試,通過藍(lán)膜頂針剝離機(jī)構(gòu),吸嘴吸取,機(jī)械手分別搬運(yùn)到高溫及常溫 測試區(qū)域,自動(dòng)擺位,自動(dòng)給電,收集發(fā)光參數(shù),分析篩選,機(jī)械手搬運(yùn)分檔歸類。
TO三溫測試系統(tǒng)
普賽斯 TO 三溫測試系統(tǒng)支持 TO 工業(yè)級(jí)低溫、常溫、高溫測試,溫度控制范圍為-40℃~85℃適用于 VCSEL/FP/DFB-TOCAN的自動(dòng)測試,支持器件任意引腳封裝測試,支持 LIV 特性測試以及光譜測試。系統(tǒng)一次支持兩塊夾具進(jìn)行測試,每塊夾具可裝載128顆TO,提高測試產(chǎn)量,系統(tǒng)具有溫控快,溫度均勻性好,穩(wěn)定可靠,測試效率高的特點(diǎn)。
光模塊集成式老化系統(tǒng)
該設(shè)備用于光模塊的老化篩選以及可靠性分析。該系統(tǒng)提供 2~5V 恒壓以及最高 120℃高溫老化條件,同時(shí)對(duì)模塊的工作電流、電壓以及工作環(huán)境溫度進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)控測試,并自動(dòng)進(jìn)行失效判斷。實(shí)時(shí)儲(chǔ)存監(jiān)控?cái)?shù)據(jù),支持對(duì)老化失效模塊進(jìn)行追述,通過 DDM 記錄模塊電壓、溫度、偏置電流、發(fā)射功率、接收功率。最多支持 2016 只模塊(SFP 封裝)的 單次老化。
400G高速誤碼測試系統(tǒng)
該產(chǎn)品是一款針對(duì)于多通道PAM4和NRZ應(yīng)用的高速信號(hào)誤碼性能分析儀,最高支持8x56Gb/s PAM4信號(hào)測試,亦可支持10G~28Gb/s NRZ信號(hào)測試,設(shè)備包含8路PPG,8路ED收發(fā)端信號(hào)可同時(shí)或者獨(dú)立工作,單路最高支持56Gb/s PAM4信號(hào),支持多類型碼型測試方案。發(fā)端包含多級(jí)預(yù)加重調(diào)節(jié)模式,可針對(duì)PAM4信號(hào)進(jìn)行眼型調(diào)節(jié)等功能,收 端包含0~9dB CTLE均衡調(diào)節(jié),也可支持FFE、DFE等均衡功能,支持FEC功能,可實(shí)現(xiàn) PRBS錯(cuò)誤校驗(yàn)與修正,KP4/KR4 FEC協(xié)議,具備 SNR監(jiān)測功能??蓮V泛于 100G 模塊、200G 模塊、400G 模塊、AOC、光器件及子系統(tǒng)研發(fā)生產(chǎn)等光測試場景,亦可為高速光收發(fā)模塊自動(dòng)化生產(chǎn)測試提供最佳解決方案。
普賽斯TO56自動(dòng)盤測系統(tǒng)
普賽斯TO56自動(dòng)盤測系統(tǒng),適用于VCSELFP/DFB/DML/EML/SOA-EML-TOCAN的自動(dòng)測試,采用一塊測試板測試64顆4PIN/5PIN-TO-CAN或32顆7PIN/8PIN-TO-CAN,支持任意引腳封裝測試,支持高溫測試、TEC溫控、LIV特性測試以及光譜測試。該系統(tǒng)和我司老化箱配套使用,提高工廠生產(chǎn)、測試效率,具有高集成度、高速、高穩(wěn)定性的特點(diǎn)。
武漢普賽斯電子是“武漢·中國光谷”一家高科技企業(yè),專業(yè)研究和開發(fā)光通信器件產(chǎn)線監(jiān)測和測試方案,以及自動(dòng)化生產(chǎn)設(shè)備。產(chǎn)品覆蓋BAR條器件、TO器件、OSA器件、光收發(fā)模塊、BOB等生產(chǎn)線,旨在為光電器件生產(chǎn)客戶提供完美的服務(wù)。
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新聞來源:訊石光通訊網(wǎng)