武漢普賽斯電子邀您共聚2021深圳光博會

  公司簡介

  武漢普賽斯電子是“武漢·中國光谷”一家高科技企業(yè)，專業(yè)研究和開發(fā)光通信器件產線監(jiān)測和測試方案，以及自動化生產設備。

  產品覆蓋BAR條器件、TO器件、OSA器件、光收發(fā)模塊、BOB等生產線，旨在為光電器件生產客戶提供完美的服務。

   聯系方式：

  TEL.:027-89908766

  E-mail:pss@whprecise.com

  Add.:中國 湖北省 武漢市東湖開發(fā)區(qū)光谷大道308號光谷動力綠色環(huán)保產業(yè)園9棟4樓

  產品看點

•   芯片測試類

  BAR條自動測試系統(tǒng)

  Chip自動測試系統(tǒng)

  模塊測試類

  400G高速誤碼儀

  光模塊集成式老化系統(tǒng)

•   器件測試類

  TO三溫測試系統(tǒng)

  TO焦距測試系統(tǒng)

  探測器組件測試分揀一體機

  高溫盤測系統(tǒng)

  高精度國產數字源表

  臺式S型

  插卡式C型

  脈沖P型

  大電流HCP型及PL型

•     CHIP自動測試系統(tǒng)

  普賽斯chip自動測試系統(tǒng)應用于光芯片 LD-CHIP 高溫/常溫 LIV 測試、SMSR 測試及背光抽測并 對不同測試結果進行歸類分檔篩選。芯片 wafer 藍膜上料，CHIP-ID 自動識別記 憶匹配測試，通過藍膜頂針剝離機構，吸嘴吸取，機械手分別搬運到高溫及常溫 測試區(qū)域，自動擺位，自動給電，收集發(fā)光參數，分析篩選，機械手搬運分檔歸類。

•     TO三溫測試系統(tǒng)

  普賽斯 TO 三溫測試系統(tǒng)支持 TO 工業(yè)級低溫、常溫、高溫測試，溫度控制范圍為-40℃～85℃適用于 VCSEL/FP/DFB-TOCAN的自動測試，支持器件任意引腳封裝測試，支持 LIV 特性測試以及光譜測試。系統(tǒng)一次支持兩塊夾具進行測試，每塊夾具可裝載128顆TO，提高測試產量，系統(tǒng)具有溫控快，溫度均勻性好，穩(wěn)定可靠，測試效率高的特點。

•       BAR條自動測試系統(tǒng)

  普賽斯BAR條自動測試機用于 LD 巴條LIV曲線，光譜，背光自動測量。全自動上下料，支持多種規(guī)格料盒上料，支持多種規(guī)格料盒或藍膜下料。常溫、高溫雙溫測試，高溫測試溫度可由用戶自定。探針加電，測試NG chip采取打點標記，向用戶開放測量數據庫，用于后續(xù)篩分工序。

•   光模塊集成式老化系統(tǒng)

  該設備用于光模塊的老化篩選以及可靠性分析。該系統(tǒng)提供 2~5V 恒壓以及最高 120℃高溫老化條件，同時對模塊的工作電流、電壓以及工作環(huán)境溫度進行實時監(jiān)控測試，并自動進行失效判斷。實時儲存監(jiān)控數據，支持對老化失效模塊進行追述，通過 DDM 記錄模塊電壓、溫度、偏置電流、發(fā)射功率、接收功率。最多支持 2016 只模塊(SFP 封裝)的 單次老化。

•   400G高速誤碼測試系統(tǒng)

  該產品是一款針對于多通道PAM4和NRZ應用的高速信號誤碼性能分析儀，最高支持8x56Gb/s PAM4信號測試，亦可支持10G~28Gb/s NRZ信號測試，設備包含8路PPG，8路ED收發(fā)端信號可同時或者獨立工作，單路最高支持56Gb/s PAM4信號，支持多類型碼型測試方案。發(fā)端包含多級預加重調節(jié)模式，可針對PAM4信號進行眼型調節(jié)等功能，收 端包含0~9dB CTLE均衡調節(jié)，也可支持FFE、DFE等均衡功能，支持FEC功能，可實現 PRBS錯誤校驗與修正，KP4/KR4 FEC協議，具備 SNR監(jiān)測功能?？蓮V泛于 100G 模塊、200G 模塊、400G 模塊、AOC、光器件及子系統(tǒng)研發(fā)生產等光測試場景，亦可為高速光收發(fā)模塊自動化生產測試提供最佳解決方案。

  第23屆中國國際光電博覽會(CIOE 2021)

  普賽斯展位信息

  展會時間：2021年9月16-18日(周四-周六)

  展會地點：廣東. 深圳國際會展中心 (廣東省深圳市寶安區(qū)福海街道展城路1號)

  普賽斯展位號：4號館 4A78