深圳維度科技即將參加日本FOE展

    ICCSZ訊 2017日本FOE光通信展覽會即將于4月5日-7日在日本東京有明國際展示中心舉行，屆時維度科技將攜光纖端面干涉儀、光纖端面檢測儀、同心度調(diào)芯儀等設(shè)備與大家見面，共同探討光纖連接器端面檢測解決方案。展位號：30-41

    維度科技于2007年在中國深圳成立，是全球領(lǐng)先的光通信視覺檢測設(shè)備的制造商。2008年推出自主開發(fā)的、擁有專利技術(shù)的、國內(nèi)首款非接觸式光纖端面干涉儀。2010年首發(fā)BINNA全自動非接觸式光纖端面干涉儀。2012年獲得深圳市2012年第一批“國家級高新技術(shù)企業(yè)”稱號。同年推出國內(nèi)首款 BINNA Mt單多芯一體光纖端面干涉儀。2015年維度科技與《北京大學(xué)深圳研究生院》合作科研《河流流量監(jiān)測系統(tǒng)關(guān)鍵技術(shù)研發(fā)與應(yīng)用》項目（注：深圳市科技創(chuàng)新委節(jié)能環(huán)保產(chǎn)業(yè)發(fā)展專項）。同時推出世界領(lǐng)先的陶瓷插芯同心度測試儀，具有多項專利技術(shù)。同年10月推出國內(nèi)首臺全自動光纖端面清潔檢測系統(tǒng)。