[OFC17]EXFO推出針對網(wǎng)絡(luò)設(shè)備制造商設(shè)計(jì)的OSA

　　ICCSZ訊  EXFO Inc. (NASDAQ: EXFO, TSX: EXF)宣布推出專用于研發(fā)實(shí)驗(yàn)室和制造環(huán)節(jié)的FTBx-5245系列光譜分析儀(OSA)。網(wǎng)絡(luò)設(shè)備制造商(NEM)目前正面臨著前所未見的轉(zhuǎn)型挑戰(zhàn)，因此必須能夠更快地進(jìn)行創(chuàng)新，與此同時(shí)控制成本并敏捷靈活地?cái)U(kuò)大生產(chǎn)規(guī)模。得益于在相干網(wǎng)絡(luò)測試方面的高性能，F(xiàn)TBx-5245 OSA進(jìn)一步推動(dòng)了光譜測試的發(fā)展。它體功能多樣，從而幫助NEM最大限度地提高自己的投資回報(bào)。

　　FTBx-5245 OSA可提供一整套光譜分析功能，涵蓋激光器、TOSA、發(fā)射器乃至整個(gè)光學(xué)系統(tǒng)。它支持實(shí)驗(yàn)室研發(fā)和制造環(huán)節(jié)中的關(guān)鍵測量，如邊模抑制比(SMSR)、中心波長和半高全寬。此外，F(xiàn)TBx-5245還提供一整套專用于實(shí)驗(yàn)室和制造應(yīng)用的模式，如光源測試(DFB和法布里-珀羅)、長期光源特性分析(漂移模式)、EDFA分析和光譜透射率分析。

　　EXFO測試與測量業(yè)務(wù)副總裁Stéphane Chabot說：“這款OSA為研發(fā)CWDM/DWDM技術(shù)和網(wǎng)絡(luò)元器件的NEM帶來了高性能的光譜測試。它具備多種測量功能，能夠幫助NEM最大限度地提高自己的投資回報(bào)。”

　　該OSA用于CWDM/DWDM網(wǎng)絡(luò)分析，安裝在易于擴(kuò)展的LTB-8平臺內(nèi)，而LTB-8平臺可提供業(yè)內(nèi)最佳的端口密度，從而最大限度地利用機(jī)架空間并將成本最小化。LTB-8平臺的八插槽配置可同時(shí)容納多達(dá)8個(gè)100G模塊，支持多種接口測試組合。因此，LTB-8平臺可容納新推出的FTBx-5245、光功率計(jì)、可變光衰減器、開關(guān)和FTBx-88200NGE多業(yè)務(wù)傳輸模塊。這種廣泛的實(shí)驗(yàn)室模塊組合可提供一整套針對系統(tǒng)設(shè)計(jì)、研發(fā)和部署測試開發(fā)的實(shí)驗(yàn)室測試功能，實(shí)現(xiàn)無可比擬的測試編排靈活性。

　　如欲了解FTBx-5245 OSA的詳情，敬請?jiān)?017年3月21-23日舉辦的OFC期間(美國加州洛杉磯市)蒞臨EXFO展臺(#2725)或訪問EXFO.com。