01背景
在過去的幾十年中,器件測試的技術(shù)發(fā)展緩慢。但是,光子集成電路的應(yīng)用和 5G 網(wǎng)絡(luò)的出現(xiàn),給器件供應(yīng)商們帶來了新挑戰(zhàn)。當(dāng)前,他們面臨著一個緊迫的任務(wù),那就是要比以往更快、更準確地測試器件。新一代器件所具有的特性已經(jīng)讓上一代器件最先進的性能變得多余。而PIC 是光學(xué)世界的一次革命。這項令人期待已久的技術(shù)已經(jīng)走出了實驗室,在傳感器、自動駕駛、醫(yī)療應(yīng)用、新一代電信網(wǎng)絡(luò)等許多領(lǐng)域得到了應(yīng)用。
光子集成電路(PIC)在電信界是一項廣為人知的技術(shù),這主要是由于收發(fā)器和無源器件瘋狂發(fā)展,它們比光器件更小、更快、更便宜、更環(huán)保。從商業(yè)和研究的角度來看,PIC也在其他領(lǐng)域(如芯片實驗室、激光雷達技術(shù)或量子計算)發(fā)展迅猛。
PIC 的強大之處,在于能夠在芯片上集成光學(xué)器件和電子器件。這意味著,光器件在減小尺寸、降低功耗和成本的同時,還提升了生產(chǎn)能力,增加了產(chǎn)量。對于這些芯片而言,研發(fā)和制造的核心是光學(xué)表征的過程。在整個器件的開發(fā)過程中,我們需要一種全新的方法來實現(xiàn)快速、可靠的表征,以便處理需要測試的大量 PIC 器件。測試數(shù)據(jù)表明:通過設(shè)計和制造,產(chǎn)量得到了提升,同時,通過組合和外包裝,集成成本也降低了。
02您可能面臨的挑戰(zhàn)
· 可靠地測量目前的復(fù)雜光器件
· 需要晶圓測試
· 快速高效地進行PIC測試
· 準確地評估器件的質(zhì)量
· 將大規(guī)模測試自動化
· 沒有光子測試專業(yè)技術(shù)
03解決方案
EXFO針對PIC測試的解決方案
——靈活、準確、快速
測試有源器件
有源器件的測試,如PIC上的激光器和放大器,非常簡單直接。
光譜分析儀(OSA)可用來測試有源器件,只需要將光源或激光器的輸出端口連接到OSA上,便可以得到光源的光譜信號(如下圖所示)。
圖1:使用OSA測試有源器件
業(yè)內(nèi)領(lǐng)先的OSA具有非常迅速的優(yōu)點,能夠以2000 nm/s的速度,每秒完成五次掃描,這足以進行實時的器件校準,且分辨率非常高,可以測量關(guān)鍵的參數(shù),如OSNR和SMSR。
測試無源器件
在測試無源器件時,CTP10在任何測試條件下都能夠提供快速、準確、可靠的結(jié)果。CTP10可以在一次掃描中最多鑒定50個光端口的光譜特性,即使在以100 nm/s的速度進行掃描時,其分辨率也可達1 pm,動態(tài)范圍超過75 dB。它采用電子設(shè)備和內(nèi)部處理器,使數(shù)據(jù)傳輸變得輕而易舉。可以使用SCPI命令遠程控制CTP10,使集成變得更加方便簡單,成為PIC測試自動設(shè)置的一個部分。
CTP10器件測試平臺是一個多端口的監(jiān)測系統(tǒng),可結(jié)合T100S-HP掃頻式可調(diào)諧激光器,測量光插損和回損。這種模塊化平臺最多可安裝50個功率計,非常適用于測試高端口數(shù)設(shè)備,如AWG,還可以控制多個可調(diào)諧激光器并行執(zhí)行測量,從而提高吞吐量并縮短測試時間。
04主要優(yōu)勢
1 快速、可靠的結(jié)果
采用研發(fā)級解決方案提供一流的測量,提升生產(chǎn)效率。OSA20可在幾秒的時間內(nèi)鑒定有源器件(如收發(fā)器內(nèi)的激光器、半導(dǎo)體光放大器)。
即使在嚴格的條件下,CTP10都能夠以皮米分辨率測試無源光器件。
2 面向未來的投資
靈活性是5G競賽的關(guān)鍵。這些解決方案的設(shè)計著眼于未來,與研究小組合作完成,因此可以集成到任何晶圓測試處理系統(tǒng)中,包括校準過程。CTP10是一個不斷發(fā)展的模塊化平臺,可逐漸在系統(tǒng)上增加其它或新的功能。它兼容多款可調(diào)諧激光器。
3 測試準備就緒
CTP10可安裝在一臺主機內(nèi),只需按一次按鈕便可以測試元器件。
OSA20和CTP10均已配備了分析功能和特別的測試配置,便于輕松安裝設(shè)置。
GUI人性化程度高,沒有犧牲任何性能。
4 完全自動
只要有全套的SCPI自動化命令,用戶就可以完全控制該測試設(shè)備,并將其集成到研究測試或生產(chǎn)測試系統(tǒng)內(nèi)。
05應(yīng)用
· 有源和無源器件測試
· 馬赫-曾德爾調(diào)制器鑒定
· AWG測試
· 環(huán)形諧振腔光譜測量
· 收發(fā)器:發(fā)射激光器測試
06相關(guān)產(chǎn)品
CTP10-無源器件測試平臺
強大的無源光器件測試平臺,適用于測試DWDM網(wǎng)和光子集成電路。
CT440/440-PDL-無源器件測試儀
是緊湊型的測試儀,用于快速、準確地鑒定無源光器件。
T100S-HP - 高功率可調(diào)諧激光器
先進、經(jīng)濟高效的解決方案,適用于研發(fā)和制造環(huán)境。提供超過的90 dB信源自發(fā)輻射比。
基于衍射光柵的測試儀,工作范圍為1250 nm至1700 nm。提供快速、精確、高動態(tài)范圍的掃描。融合了觸摸屏與多點手勢觸控。
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