3.25訊石直播|是德科技聯(lián)合FormFactor 推出硅光及Wafer-Level 測試講解

ICCSZ訊 訊石直播光通信行業(yè)欄目開播后，第一期“5G浪潮下的硅光技術”獲得了廣泛關注。3月25日上午10點第二期直播即將展開，訊石攜手是德科技，聯(lián)合FormFactor推出硅光及Wafer-Level測試講解。本次直播榮幸邀請到了是德科技測試專家朱振華聯(lián)合FormFactor技術顧問Sia Choon Beng博士直播關于硅光測試發(fā)展概況和精準高效的Wafer-Level測試挑戰(zhàn)及解決方案。歡迎識別二維碼預約參加！

伴隨5G正式商用的臨近，無人駕駛，人工智能，萬物互聯(lián)等應用產生的爆發(fā)式流量增長給光通信網絡在高帶寬，低能耗，大規(guī)模集成等方面提升訴求帶來很大的壓力，以硅為半導體材料的硅基光電子技術應運而生。硅基光電子是“后摩爾時代”的重要技術，相比傳統(tǒng)光電通信制造工藝，硅光技術有望通過大規(guī)模半導體制造工藝極大地降低光通信收發(fā)器成本，將微電子和光電子在硅基平臺上結合起來，充分發(fā)揮微電子先進成熟的工藝技術，大規(guī)模集成帶來的低廉價格，以及光器件與系統(tǒng)所特有的極高帶寬、超快傳輸速率、高抗干擾性等優(yōu)勢，已經成為了信息技術發(fā)展的必然和業(yè)界的普遍共識。

同時為了有效地集成和封裝這些硅基光收發(fā)器，在堆疊和封裝之前，必須測試所有單獨的功能模塊，例如邏輯、光子學和連續(xù)波激光等。

wafer-level光子學的三個關鍵挑戰(zhàn)：

1.需要完整的測試和測量測試自動化來滿足這些known-good-die測試的高吞吐量要求。特別是當測試工程師需要在同一時間使用光學、直流、射頻探頭來處理多種可能的測試結構排列布局。

2.優(yōu)化測試時間。因為光信號和光電測試需要較長的測量時間，這是由于光纖對準/耦合過程的復雜性和測量過程中需要的精細掃描步驟造成的。

3.準確測試最終產品的能力是一個巨大的障礙。因為大多數SiPh芯片在封裝后利用邊緣耦合器將光傳輸到芯片內外，而大多數商用的晶圓片級測試解決方案需要光柵耦合器來實現(xiàn)晶圓片頂部的光傳輸。

本次直播將討論這些挑戰(zhàn)的解決方案，以實現(xiàn)更高精度的測量和與最終產品性能的相關性，進行整體方案總結。我們特邀在此領域資深的是德科技測試專家聯(lián)合FormFactor技術顧問在此專題為大家?guī)黻P于有關硅光及硅光測試最全面的內容。

演講人: 

是德科技技術專家 朱振華

朱振華 畢業(yè)于華中科技大學（本科）以及清華大學（碩士），于2011年加入是德科技公司，作為應用工程師工作至今。主要負責為各大光器件及光網絡設備企業(yè)、高?？蒲性核峁┕馔ㄐ艤y試方面的技術支持和服務，對光通信領域內的核心器件和網絡、相干光通信、高速光電接口等的測試方法原理有深入了解和豐富的實測經驗。

FormFactor技術顧問 Dr. Sia Choon Beng

Sia Choon Beng博士是新加坡總統(tǒng)授予的SSG研究員，南洋理工大學的研究學者，獲得了新加坡南洋理工大學的電子工程學士、碩士和博士學位。Dr. Sia是IEEE的高級成員，并在IEEE的MTT-3技術委員會任職，他還會為新加坡半導體工業(yè)協(xié)會講授研究生水平的半導體課程，同時也是由新加坡國家標準委員會SPRING發(fā)起的IEC TC47技術委員會的成員。Dr. Sia代表新加坡在各個IEC技術委員會中擔任技術專家，為半導體器件的MEMs、光學和晶片級可靠性測試制定標準。Dr. Sia目前在FormFactor工作，他參與開發(fā)了半導體晶圓測試的解決方案。

直播日程：

10：00~10：50  是德科技硅光測試方案介紹

10：50~11：30 FormFactor Wafer-level精準高效測試方案介紹

11：30~11：50 抽獎及線上答疑

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