ICCSZ訊 隨著是德科技新一代掃描探針顯微鏡控制器的研發(fā)推出,升級(jí)原有5500SPM系統(tǒng)將帶來全新更為先進(jìn)高效的掃描控制方式及便捷的軟件控制界面。
系統(tǒng)升級(jí)后的優(yōu)勢(shì)如下:
* 基于FPGA處理單元的高帶寬全數(shù)字化新型控制器(FPGA@200MHz)
* 全新NanoNavigator 掃描控制軟件,直觀簡(jiǎn)潔的流程式控制界面,對(duì)于各種成像模式系統(tǒng)都預(yù)先集成運(yùn)行模板,用戶使用時(shí)調(diào)用相應(yīng)模板即可,包括專家級(jí)操作模式
* 全新的Quick Sense成像模式,對(duì)AFM成像力達(dá)到皮牛級(jí)精準(zhǔn)控制,您可在成像的同時(shí)同步獲取表面粘滯力分布圖、接觸剛度分布圖、壓入深度分布圖、彈性模量分布圖及電流分布圖等力學(xué)電學(xué)信息,并且成像速度及分辨率未受到任何影響
* AutoDrive功能自動(dòng)設(shè)置掃描成像參數(shù)
* 成像速度較常規(guī)有顯著提高
* 一整套基于單次掃描的表面電學(xué)分析成像模式,包括EFM、KFM、PFM等
* 完整的原位電化學(xué)控制功能
力學(xué)性能表征 - QuickSense
40um掃描,256 x256數(shù)據(jù)采集(成像時(shí)長(zhǎng)約8分鐘);
其中粘滯力圖中藍(lán)色區(qū)域代表高粘滯力,紅色表示中等粘滯力,白色表示低粘滯力;
剛度圖中藍(lán)色區(qū)域代表高模量,紅色代表低模量。
電學(xué)性能表征 - KFM
SRAM樣品原位單次掃描表面電勢(shì)成像,
AFM 形貌(A),相位 (B) ,表面電勢(shì)(C), dC/dZ (D)
掃描范圍: 15 µm x 15 µm。
新聞來源:是德科技
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