長(zhǎng)度升級(jí)-昊衡推出40cm光纖微裂紋檢測(cè)儀

  ICC訊 2022年伊始，昊衡科技推出的光纖微裂紋檢儀，由最初6cm,升級(jí)到12cm,實(shí)現(xiàn)第一次系統(tǒng)的技術(shù)升級(jí)，解決了一部分客戶的需求，但這遠(yuǎn)不是昊衡研發(fā)設(shè)備的初心。針對(duì)光纖微裂紋檢測(cè)儀，我們一直有兩個(gè)維度的技術(shù)要求，一是縱向拓展探測(cè)深度，二是橫向拓展測(cè)試長(zhǎng)度。

  2022年10月，光纖微裂紋檢測(cè)儀測(cè)量長(zhǎng)度從12cm升級(jí)到40cm。本次采用全新的光路設(shè)計(jì)以及更換鏈路模塊，保證原有探測(cè)深度不變，完成這次長(zhǎng)度升級(jí)，設(shè)備測(cè)試性能和穩(wěn)定性也有所提升，40cm的測(cè)量長(zhǎng)度能更大程度滿足客戶測(cè)試所需，待測(cè)器件長(zhǎng)度也不在局限，同時(shí)客戶也不需要非常精準(zhǔn)的去匹配引纖長(zhǎng)度，為測(cè)試器件留有更大空間，更便捷客戶使用。

圖1.40cm測(cè)試圖

  昊衡推出的光纖微裂紋檢測(cè)儀叫做低成本光學(xué)鏈路診斷系統(tǒng)(OLI)，該系統(tǒng)通過讀取最終干涉曲線的峰值大小，精確測(cè)量整個(gè)掃描范圍內(nèi)的回波損耗， 進(jìn)而判斷此測(cè)量范圍內(nèi)鏈路的性能，其事件點(diǎn)定位精度高達(dá)幾十微米，最低可探測(cè)到-80dB光學(xué)弱信號(hào)， 廣泛用于光纖或光器件損傷檢測(cè)以及產(chǎn)品批量出貨合格判定。

  圖2.低成本光學(xué)鏈路診斷儀

  產(chǎn)品應(yīng)用

  光纖微裂紋檢測(cè)

  FA光纖陣列鏈路性能檢測(cè)

  硅光芯片、PLC波導(dǎo)瑕疵損耗檢測(cè)

  光器件、光模塊內(nèi)部耦合點(diǎn)、連接點(diǎn)性能檢測(cè)